49 results on '"Badawi, K. F."'
Search Results
2. Atomic force microscopy analysis of buckling phenomena in metallic thin films on substrates
3. Mechanical properties and size effect in nanometric W/Cu multilayers
4. Residual stresses and microstructure in tungsten thin films analyzed by x-ray diffraction-evolution under ion irradiation.
5. Crystalline quality and residual stresses in diamond layers by Raman and x-ray diffraction analyses.
6. X-ray study of elastic and plastic strains in Na+-implanted (001) monocrystalline MgO.
7. Measurement of the elastic constants of textured anisotropic thin films from x-ray diffraction data
8. X-ray diffraction study of residual stresses and microstructure in tungsten thin films sputter deposited on polyimide
9. Size effect on intragranular elastic constants in thin tungsten films
10. Détermination du module d'Young dans des films minces de tungstène par diffraction des rayons X
11. Measuring thin film and multilayer elastic constants by coupling in situ tensile testing with x-ray diffraction
12. Étude des propriétés élastiques de multicouches Ni/Mo en couplant un dispositif de traction à un diffractomètre de rayons X
13. X-ray diffraction study of thin film elastic properties in relation with their microstructure
14. An experimental method for measuring the Poisson's ratio in thin films and multilayers using a tensile machine set up on an X-ray goniometer
15. Poisson’s ratio measurement in tungsten thin films combining an x-ray diffractometer with in situ tensile tester
16. Interprétation cohérente du coefficient de Poisson négatif rapporté dans des multicouches métalliques : rôle du paramètre libre de contrainte
17. Détermination des contraintes résiduelles et de la microstructure intra-granulaire dans des films minces de W déposés par pulvérisation magnétron
18. Analyse de l'état mécanique et microstructural de films minces supraconducteurs YBa2 Cu3O7 par diffraction des rayons X
19. Étude de la structure de multicouches Au/Pt par des techniques complémentaires de rayons X
20. Nouvel appareillage de diffraction X pour l'analyse de l'état mécanique (contraintes et microdéformations) de films minces nanocristallins
21. Correlation between electronic and atomic structures in Ag‐Ni multilayers
22. Relaxation of residual stresses in highly stressed multilayers initiated by ion irradiation
23. Internal friction and its thermal evolution measured on very thin platinum films
24. Surface roughening resulting from ion irradiation of multilayered materials
25. Residual Stresses Analysis in Diamond Layers Deposited on Various Substrates
26. Residual stresses and microstructure of Ag‐Ni multilayers
27. Mesure par diffraction des rayons X des microdéformations dans des films minces texturés d'Au
28. Proprietés mécaniques de surface d'un acier inoxydable traité par explosif
29. Evolution des contraintes résiduelles dans des films minces de tungstène en fonction de l'irradiation
30. Formalisme rationnel le la méthode de détermination des contraintes résiduelles par diffraction des rayons X: application aux couches minces et multicouches
31. Determination of the residual stress tensor in Cu/W multilayers by x‐ray diffraction
32. Détermination des contraintes résiduelles par diffraction des rayons X dans une couche mince de 1 000 Å de tungstène
33. Etude d'un invariant permettant de caractériser un faisceau laser : application à une source YAG-Nd de forte puissance
34. Etude des caractéristiques d'une cavité laser en X de forte puissance
35. INTEREST OF BEAM QUALITY IN MATERIALS TREATMENTS BY HIGH POWER LASER
36. CHARACTERISTICS OF A CW AND PSEUDO PULSED YAG LASER OF 1,2 KW
37. Spatial characterization of YAG power laser beam
38. Observation des modes d'un laser de puissance. Validation de la méthode
39. Influence of surface conditions on the diffusion bonding of TA6V alloy
40. Analyse de l'état mécanique et microstructural de films minces supraconducteurs YBa2Cu3O7par diffraction des rayons X
41. Profile analysis of thin film X-ray diffraction peaks
42. Influence of microstructure on residual stress in tungsten thin films analyzed by X-ray diffraction
43. Mechanical strength assessment of very thin films for optical and electronic applications
44. Elastic properties of supported polycrystalline thin films and multilayers: An x-ray diffraction study
45. Elastic constant measurement in supported W/Cu multilayer thin films by X-ray diffraction
46. Determination of residual stress and elasticity constants from thin films x-ray diffraction,Détermination des contraintes résiduelles et des constantes d'élasticité dans les films minces par diffraction des rayons X
47. Détermination des contraintes résiduelles et des constantes d'élasticité dans les films minces par diffraction des rayons X
48. Study of the mechanical and microstructural state of platinum thin films
49. Origin of residual stress in a textured Au thin film on a LiF substrate
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