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Détermination des contraintes résiduelles et des constantes d'élasticité dans les films minces par diffraction des rayons X
Details
- Database :
- OpenAIRE
- Journal :
- Scopus-Elsevier
- Accession number :
- edsair.dedup.wf.001..a581cb0b5e353042c6c3d2f100e1016a