Analyse de l'état mécanique et microstructural de films minces supraconducteurs YBa2Cu3O7par diffraction des rayons X

Cette étude présente une analyse de l'état mécanique et microstructurale dans un film mince de 100 nm d'épaisseur d'YBCO déposé sur un substrat de MgO. En utilisant la diffraction des rayons X couplée à une approche tensorielle, nous avons déterminé les déformations, les contraintes, les paramètres libres de contraintes, les microdistorsions élastiques ainsi que la taille des domaines cohérents de diffraction. Les paramètres libres de contrainte sont supérieurs à ceux du massif. Une valeur élevée des contraintes est expliquée à partir des contraintes de cohérence, des contraintes thermiques et intrinsèques. L'analyse des profils des pics de diffraction suggère la présence de sous-joints et de distorsions élastiques élevées au niveau des mailles cristallographiques.