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Wirkung des Ladungsträgerplasmas auf das Abschaltverhalten von Insulated Gate Bipolar Transistoren

Authors :
Böhmer, Jürgen
Publication Year :
2014
Publisher :
Universität Rostock, 2014.

Abstract

Im eingeschalteten Zustand tragen beim IGBT, anders als beim MOSFET, Elektronen und Löcher zum Stromfluss bei. Auf Grund des Löcherstromes ist der Gradient der elektrischen Feldstärke höher als im stromlosen Zustand. Diese Gegebenheit führt zu unterschiedlichen Auswirkungen der Millerkapazität beim Abschalten von IGBT und MOSFET. Diese Arbeit zeigt, dass auftretende Effekte beim IGBT erläutert werden können, wenn anstelle eines Ersatzschaltbildes die direkt auftretenden Feldstärken betrachtet werden. Dazu kann das dreidimensionale Gebilde des IGBTs auf eine Dimension reduziert werden.

Details

Language :
German
Database :
OpenAIRE
Accession number :
edsair.doi...........a104eadaad4f2c9aeeb978f5dd1aa4f2
Full Text :
https://doi.org/10.18453/rosdok_id00001314