5 results on '"Trolard, B."'
Search Results
2. Two interferometric methods for the mechanical characterization of thin films by bulging tests. Application to single crystal of silicon
3. Micro–structured surface element for high–accuracy position measurement by vision and phase measurement
4. Mise en œuvre de deux méthodes interférométriques pour la caractérisation mécanique des films minces par l'essai de gonflement. Applications au cas du silicium monocristallin
5. Mise en ?uvre de deux m?thodes interf?rom?triques pour la caract?risation m?canique des films minces par l'essai de gonflement. Applications au cas du silicium monocristallin
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