Search

Debido al incremento del uso de la tecnología LED (Light Emitting Diode) y a la complejidad de sus modos y mecanismos de falla, su confiabilidad resulta un tema clave de investigación. Para realizar estudios de confiabilidad, la distribución de Weibull es generalmente la más empleada, pero en los LEDs, como estos se degradan continuamente, dicha distribución podría no funcionar con la misma eficacia. Este artículo muestra el procedimiento para la obtención de modelos de confiabilidad de LEDs blancos empleados en iluminación, a partir de distribuciones de probabilidad no tradicionales de “tiempos hasta el fallo” obtenidos, según criterio ܮ଻଴ de ASSIST, en ensayos acelerados de la literatura consultada. Los análisis realizados con los “tiempos hasta el fallo” mostraron que no hay evidencia suficiente para rechazar que los datos siguen la distribución de Weibull-Exponencial Generalizada (WGED) y la distribución Modificada de Weibull (MWD), según la Prueba de Bondad de Ajuste Kolmogorov-Smirnov.