1. Analyse par voie algorithmique du signal clignotant dans les détecteurs matriciels : application à l’étude de l’effet du champ électrique dans un détecteur infrarouge refroidi à base de HgCdTe
- Author
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Guénin, Maxence, DOTA, ONERA, Université Paris Saclay [Palaiseau], ONERA-Université Paris-Saclay, LYNRED (Veurey-Voroize), Université Paris-Saclay, Isabelle Ribet, Sophie Derelle, and Laurent Rubaldo
- Subjects
Reconstruction algorithm ,Bruit télégraphique (RTS) ,Bias voltage ,[SPI.OPTI]Engineering Sciences [physics]/Optics / Photonic ,Algorithme de reconstruction ,Random telegraph (RTS) ,[SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics ,Infrared detector ,Tension de polarisation ,[SPI.SIGNAL]Engineering Sciences [physics]/Signal and Image processing ,Détecteur infrarouge - Abstract
The increase in operational requirement related to infrared detectors, mainly the increase in operating temperature or the improvement of the image quality, highlights the problematic of the study and reduction of the number of pixels presenting low frequency noise, such as the random telegraph noise (RTS), which is characterized by a signal alternating between multiple stable states, creating “blinking” pixels. The objective of this thesis is to characterize the effect of one of the principal environmental conditions of a HgCdTe-based infrared detector, bias voltage, on the parameters of the random telegraph pixels for different operating temperatures. To this end, we developed a new automated tool for the detection and characterization of the random telegraph pixels of the detectors. This tool is based on two algorithms. The first one, based on the detection of jumps is developed and validated on simulated and real cases. However it can make false detections or incorrect characterizations in presence of moderate 1/f noise. To overcome this limited we developed an algorithm separating the low frequency component from the random telegraph signal. A new study on simulated and real RTS showed that this second algorithms has no false detections significantly improves the characterization thanks to a better RTS reconstruction. Thanks to this tool, we conducted a study of the effect of the bias voltage on the number of random telegraph pixels detected, on their jump amplitude, and their blinking frequency in a HgCdTe n/p detector. We have shown that the bias voltage increases the number of detected random telegraph pixels, as well as their amplitude, with no apparent effect on the blinking frequency.; L’augmentation des exigences opérationnelles relatives aux détecteurs infrarouge, notamment l’augmentation de la température de fonctionnement et l’amélioration de la qualité image, amène la problématique de l’étude et de la réduction du nombre de pixels présentant du bruit basse fréquence, comme le bruit télégraphique (RTS pour Random Telegraph Signal) assimilable à un « clignotement ». L’objectif de cette thèse est de caractériser l’effet d’une des principales conditions environnementales d’un détecteur infrarouge matriciel à base de HgCdTe, la tension de polarisation, et donc le champ électrique appliqué aux photodiodes, sur les paramètres des pixels clignotants pour différentes températures de fonctionnement. Pour cela, nous avons été amenés à développer un nouvel outil de détection et de caractérisation automatique des pixels clignotants de la matrice. Cet outil est basé sur l’utilisation de deux algorithmes. Le premier algorithme est basé sur la détection de sauts. Son évaluation sur des signaux RTS simulés a mis en évidence de fausses détections et de mauvaises caractérisations en présence de bruit en 1/f modéré. Pour dépasser cette limite, un second algorithme de séparation du bruit en 1/f et du RTS a été développé. Une nouvelle étude sur les signaux RTS simulés a montré que ce second algorithme permet de supprimer les fausses détections et d’améliorer de manière significative la caractérisation grâce à une meilleure reconstruction du signal RTS. Cet outil nous a ensuite permis de réaliser une étude de l’effet de la tension de polarisation sur le nombre de pixels clignotants détectés, leur amplitude de saut, ainsi que leur fréquence de clignotement dans un détecteur en HgCdTe de technologie n/p. Nous avons en particulier montré que la tension de polarisation augmente le nombre de pixels détectés, ainsi que leur amplitude mais n’a pas d’effet manifeste sur leur fréquence de clignotement.
- Published
- 2021