Sistema de medida de la transmisión óptica de bajo coste con LED a 1.45 um: obtención del coeficiente de absorción del c-Si a altas temperaturas y monitorización in-situ de la recristalización de capas a-SiCx:H sobre c-Si.

Details

Database :

OAIster

Journal :

TDX (Tesis Doctorals en Xarxa)

Notes :

application/pdf, Spanish

Publication Type :

Electronic Resource

Accession number :

edsoai.on1443567810

Document Type :

Electronic Resource