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Hybrid Localized SOI/Bulk technology for Low Power System-on-Chip.

Authors :
Beijing Meteorological Bureau ; Beijing Meteorological Bureau
STMicroelectronics [Crolles] (ST-CROLLES) ; STMicroelectronics
Laboratoire de physiopathologie de la nutrition (LPN) ; CNRS - Université Paris VII - Paris Diderot
Université Paris-Sud (IDES) ; CNRS
Science et Ingénierie des Matériaux et Procédés (SIMaP) ; Université Joseph Fourier - Grenoble I - Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG) - CNRS
Laboratoire d'Electronique et des Technologies de l'Information (LETI) ; CEA
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC) ; Université de Savoie - Université Joseph Fourier - Grenoble I - Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG) - CNRS
Huguenin, J.-L.
Monfray, S.
Bidal, G.
Denorme, S.
Perreau, P.
Barnola, S.
Samson, M.-P.
Arvet, C.
Benotmane, K.
Loubet, N.
Liu, Q.
Campidelli, Y.
Leverd, F.
Abbate, F.
Clement, L.
Borowiak, C.
Cros, A.
Bajolet, A.
Handler, S.
Marin-Cudraz, D.
Benoist, T.
Galy, P.
Fenouillet-Beranger, C.
Faynot, O.
Ghibaudo, G.
Boeuf, F.
Skotnicki, T.
Beijing Meteorological Bureau ; Beijing Meteorological Bureau
STMicroelectronics [Crolles] (ST-CROLLES) ; STMicroelectronics
Laboratoire de physiopathologie de la nutrition (LPN) ; CNRS - Université Paris VII - Paris Diderot
Université Paris-Sud (IDES) ; CNRS
Science et Ingénierie des Matériaux et Procédés (SIMaP) ; Université Joseph Fourier - Grenoble I - Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG) - CNRS
Laboratoire d'Electronique et des Technologies de l'Information (LETI) ; CEA
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC) ; Université de Savoie - Université Joseph Fourier - Grenoble I - Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG) - CNRS
Huguenin, J.-L.
Monfray, S.
Bidal, G.
Denorme, S.
Perreau, P.
Barnola, S.
Samson, M.-P.
Arvet, C.
Benotmane, K.
Loubet, N.
Liu, Q.
Campidelli, Y.
Leverd, F.
Abbate, F.
Clement, L.
Borowiak, C.
Cros, A.
Bajolet, A.
Handler, S.
Marin-Cudraz, D.
Benoist, T.
Galy, P.
Fenouillet-Beranger, C.
Faynot, O.
Ghibaudo, G.
Boeuf, F.
Skotnicki, T.
Source :
IEEE VLSI symposium 2010; IEEE VLSI symposium 2010, Dec 2009, Hawai, United States

Abstract

International audience

Details

Database :
OAIster
Journal :
IEEE VLSI symposium 2010; IEEE VLSI symposium 2010, Dec 2009, Hawai, United States
Notes :
Hawai, United States, IEEE VLSI symposium 2010, English
Publication Type :
Electronic Resource
Accession number :
edsoai.ocn893170594
Document Type :
Electronic Resource