Back to Search Start Over

Oxide Soft BreakDown : From Device Modeling to Small Circuit Simulation

Authors :
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC) ; Université de Savoie - Université Joseph Fourier - Grenoble I - Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG) - CNRS
Gerrer, L.
Ghibaudo, G.
Ribes, G.
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC) ; Université de Savoie - Université Joseph Fourier - Grenoble I - Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG) - CNRS
Gerrer, L.
Ghibaudo, G.
Ribes, G.
Source :
39th European Solid-State Circuit Research Conference; 39th European Solid-State Circuit Research Conference, Sep 2009, Athènes, Greece

Abstract

International audience

Details

Database :
OAIster
Journal :
39th European Solid-State Circuit Research Conference; 39th European Solid-State Circuit Research Conference, Sep 2009, Athènes, Greece
Notes :
Athènes, Greece, 39th European Solid-State Circuit Research Conference, English
Publication Type :
Electronic Resource
Accession number :
edsoai.ocn893170589
Document Type :
Electronic Resource

Tools

Authors Abstract Subjects Details