Thin-body ESD protections in 28nm UTBB-FDSOI: From static to transient behavior

Authors :: RFHO ; Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC) ; Université de Savoie - Université Joseph Fourier - Grenoble I - Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG) - CNRS - Université de Savoie - Université Joseph Fourier - Grenoble I - Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG) - CNRS
Laboratoire d'Electronique et des Technologies de l'Information (LETI) ; CEA
Solaro, Y.
Fonteneau, P.
Legrand, C.-A.
Marin-Cudraz, D.
Passieux, J.
Guyader, P.
Clement, L.-R.
Fenouillet-Beranger, C.
Ferrari, P.
Cristoloveanu, S.
RFHO ; Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC) ; Université de Savoie - Université Joseph Fourier - Grenoble I - Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG) - CNRS - Université de Savoie - Université Joseph Fourier - Grenoble I - Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG) - CNRS
Laboratoire d'Electronique et des Technologies de l'Information (LETI) ; CEA
Solaro, Y.
Fonteneau, P.
Legrand, C.-A.
Marin-Cudraz, D.
Passieux, J.
Guyader, P.
Clement, L.-R.
Fenouillet-Beranger, C.
Ferrari, P.
Cristoloveanu, S.
Source :: Proc. of the 36th EOS/ESD 2014 Symposium; Proc. of the 36th EOS/ESD 2014 Symposium, Sep 2014, Tucson, United States. pp.1-4
Abstract: International audience

Database :: OAIster
Journal :: Proc. of the 36th EOS/ESD 2014 Symposium; Proc. of the 36th EOS/ESD 2014 Symposium, Sep 2014, Tucson, United States. pp.1-4
Notes :: Tucson, United States, Proc. of the 36th EOS/ESD 2014 Symposium, English
Publication Type :: Electronic Resource
Accession number :: edsoai.ocn893125112
Document Type :: Electronic Resource