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Influence des éléments RLC dépendant de la fréquence sur le comportement dans le domaine temporal des interconnexions dans un environnement complexe en technologie CMOS avancée

Authors :
Laboratoire des sciences et techniques de l'information, de la communication et de la connaissance (Lab-STICC) ; CNRS - Université de Bretagne Occidentale (UBO) - Université de Bretagne Sud (UBS) - Télécom Bretagne - Institut Supérieur des Sciences et Technologies de Brest (ISSTB) - Institut Mines-Télécom - PRES Université Européenne de Bretagne (UEB)
Laboratoire d'Electronique et Systèmes de Télécommunications (LEST) ; CNRS - Université de Bretagne Occidentale (UBO) - Ecole Nationale Supérieure des Télécommunications de Bretagne
Quéré, Yves
Le Gouguec, Thierry
Tanguy, Noël
Martin, Pierre-Marie
Le Berre, Denis
Huret, Fabrice
Laboratoire des sciences et techniques de l'information, de la communication et de la connaissance (Lab-STICC) ; CNRS - Université de Bretagne Occidentale (UBO) - Université de Bretagne Sud (UBS) - Télécom Bretagne - Institut Supérieur des Sciences et Technologies de Brest (ISSTB) - Institut Mines-Télécom - PRES Université Européenne de Bretagne (UEB)
Laboratoire d'Electronique et Systèmes de Télécommunications (LEST) ; CNRS - Université de Bretagne Occidentale (UBO) - Ecole Nationale Supérieure des Télécommunications de Bretagne
Quéré, Yves
Le Gouguec, Thierry
Tanguy, Noël
Martin, Pierre-Marie
Le Berre, Denis
Huret, Fabrice
Source :
13e Colloque International de Compatibilité Electromagnétique, CEM 2006.; 13e Colloque International de Compatibilité Electromagnétique, CEM 2006., Apr 2006, Saint-Malo, France. pp.350-351

Abstract

International audience

Details

Database :
OAIster
Journal :
13e Colloque International de Compatibilité Electromagnétique, CEM 2006.; 13e Colloque International de Compatibilité Electromagnétique, CEM 2006., Apr 2006, Saint-Malo, France. pp.350-351
Notes :
Saint-Malo, France, 13e Colloque International de Compatibilité Electromagnétique, CEM 2006., French
Publication Type :
Electronic Resource
Accession number :
edsoai.ocn892957627
Document Type :
Electronic Resource

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Authors Abstract Subjects Details