Ancho de banda en superficies selectivas en frecuencia. Elemento resonante del tipo lazo cuadrado

La ausencia de formulaciones que permitan evaluar el efecto de los parámetros geométricos y los asociados al dieléctrico para la determinación del ancho de banda en superficies selectivas en frecuencia (SSF), hace que la evaluación de sus efectos se realice a través de análisis de tipo paramétrico. El objetivo de este tipo de análisis es determinar la influencia en el ancho de banda de un parámetro en particular, bien sea asociado al soporte dieléctrico o a los parámetros geométricos de la superficie selectiva, con la finalidad de orientar el proceso de diseño de la superficie; en este sentido, a lo largo del texto se presentan los resultados de un análisis basado en una novedosa formulación para la determinación del ancho de banda en SSF tipo lazo cuadrado, el cual tiene en cuenta los efectos de las variables geométricas y las asociadas al material dieléctrico, usando como herramienta de análisis, el modelo de circuito equivalente (MCE). Este tipo de enfoque hace innecesario, por lo tanto, el uso de análisis de tipo paramétrico, basado en software electromagnético, para la evaluación de los efectos mencionados en el ancho de banda. Respecto a la formulación propuesta, el dieléctrico es considerado como parámetro concentrado, por lo tanto, es aplicable únicamente a dieléctricos delgados. Cabe resaltar la exactitud aceptable obtenida con el enfoque propuesto comparado con simulaciones implementadas en un software basado en el método de los elementos finitos (MEF).