Back to Search Start Over

Measurement of the absolute branching fraction of inclusive semielectronic $D_s^+$ decays

Authors :
BESIII Collaboration
Ablikim, M.
Achasov, M. N.
Adlarson, P.
Ahmed, S.
Albrecht, M.
Aliberti, R.
Amoroso, A.
An, M. R.
An, Q.
Bai, X. H.
Bai, Y.
Bakina, O.
Ferroli, R. Baldini
Balossino, I.
Ban, Y.
Begzsuren, K.
Berger, N.
Bertani, M.
Bettoni, D.
Bianchi, F.
Bloms, J.
Bortone, A.
Boyko, I.
Briere, R. A.
Cai, H.
Cai, X.
Calcaterra, A.
Cao, G. F.
Cao, N.
Cetin, S. A.
Chang, J. F.
Chang, W. L.
Chelkov, G.
Chen, D. Y.
Chen, G.
Chen, H. S.
Chen, M. L.
Chen, S. J.
Chen, X. R.
Chen, Y. B.
Chen, Z. J
Cheng, W. S.
Cibinetto, G.
Cossio, F.
Cui, X. F.
Dai, H. L.
Dai, X. C.
Dbeyssi, A.
de Boer, R. E.
Dedovich, D.
Deng, Z. Y.
Denig, A.
Denysenko, I.
Destefanis, M.
De Mori, F.
Ding, Y.
Dong, C.
Dong, J.
Dong, L. Y.
Dong, M. Y.
Dong, X.
Du, S. X.
Fan, Y. L.
Fang, J.
Fang, S. S.
Fang, Y.
Farinelli, R.
Fava, L.
Feldbauer, F.
Felici, G.
Feng, C. Q.
Feng, J. H.
Fritsch, M.
Fu, C. D.
Gao, Y.
Gao, Y. G.
Garzia, I.
Ge, P. T.
Geng, C.
Gersabeck, E. M.
Gilman, A
Goetzen, K.
Gong, L.
Gong, W. X.
Gradl, W.
Greco, M.
Gu, L. M.
Gu, M. H.
Gu, Y. T.
Guan, C. Y
Guo, A. Q.
Guo, L. B.
Guo, R. P.
Guo, Y. P.
Guskov, A.
Han, T. T.
Han, W. Y.
Hao, X. Q.
Harris, F. A.
He, K. L.
Heinsius, F. H.
Heinz, C. H.
Held, T.
Heng, Y. K.
Herold, C.
Himmelreich, M.
Holtmann, T.
Hou, G. Y.
Hou, Y. R.
Hou, Z. L.
Hu, H. M.
Hu, J. F.
Hu, T.
Hu, Y.
Huang, G. S.
Huang, L. Q.
Huang, X. T.
Huang, Y. P.
Huang, Z.
Hussain, T.
Hüsken, N
Andersson, W. Ikegami
Imoehl, W.
Irshad, M.
Jaeger, S.
Janchiv, S.
Ji, Q.
Ji, Q. P.
Ji, X. B.
Ji, X. L.
Ji, Y. Y.
Jiang, H. B.
Jiang, X. S.
Jiao, J. B.
Jiao, Z.
Jin, S.
Jin, Y.
Jing, M. Q.
Johansson, T.
Kalantar-Nayestanaki, N.
Kang, X. S.
Kappert, R.
Kavatsyuk, M.
Ke, B. C.
Keshk, I. K.
Khoukaz, A.
Kiese, P.
Kiuchi, R.
Kliemt, R.
Koch, L.
Kolcu, O. B.
Kopf, B.
Kuemmel, M.
Kuessner, M.
Kupsc, A.
Kurth, M. G.
Kühn, W.
Lane, J. J.
Lange, J. S.
Larin, P.
Lavania, A.
Lavezzi, L.
Lei, Z. H.
Leithoff, H.
Lellmann, M.
Lenz, T.
Li, C.
Li, C. H.
Li, Cheng
Li, D. M.
Li, F.
Li, G.
Li, H.
Li, H. B.
Li, H. J.
Li, J. L.
Li, J. Q.
Li, J. S.
Li, Ke
Li, L. K.
Li, Lei
Li, P. R.
Li, S. Y.
Li, W. D.
Li, W. G.
Li, X. H.
Li, X. L.
Li, Xiaoyu
Li, Z. Y.
Liang, H.
Liang, Y. F.
Liang, Y. T.
Liao, G. R.
Liao, L. Z.
Libby, J.
Lin, C. X.
Liu, B. J.
Liu, C. X.
Liu, D.
Liu, F. H.
Liu, Fang
Liu, Feng
Liu, H. B.
Liu, H. M.
Liu, Huanhuan
Liu, Huihui
Liu, J. B.
Liu, J. L.
Liu, J. Y.
Liu, K.
Liu, K. Y.
Liu, L.
Liu, M. H.
Liu, P. L.
Liu, Q.
Liu, S. B.
Liu, Shuai
Liu, T.
Liu, W. M.
Liu, X.
Liu, Y.
Liu, Y. B.
Liu, Z. A.
Liu, Z. Q.
Lou, X. C.
Lu, F. X.
Lu, H. J.
Lu, J. D.
Lu, J. G.
Lu, X. L.
Lu, Y.
Lu, Y. P.
Luo, C. L.
Luo, M. X.
Luo, P. W.
Luo, T.
Luo, X. L.
Lyu, X. R.
Ma, F. C.
Ma, H. L.
Ma, L. L.
Ma, M. M.
Ma, Q. M.
Ma, R. Q.
Ma, R. T.
Ma, X. X.
Ma, X. Y.
Maas, F. E.
Maggiora, M.
Maldaner, S.
Malde, S.
Malik, Q. A.
Mangoni, A.
Mao, Y. J.
Mao, Z. P.
Marcello, S.
Meng, Z. X.
Messchendorp, J. G.
Mezzadri, G.
Min, T. J.
Mitchell, R. E.
Mo, X. H.
Mo, Y. J.
Muchnoi, N. Yu.
Muramatsu, H.
Nakhoul, S.
Nefedov, Y.
Nerling, F.
Nikolaev, I. B.
Ning, Z.
Nisar, S.
Ouyang, Q.
Pacetti, S.
Pan, X.
Pan, Y.
Pathak, A.
Patteri, P.
Pelizaeus, M.
Peng, H. P.
Peters, K.
Pettersson, J.
Ping, J. L.
Ping, R. G.
Pogodin, S.
Poling, R.
Prasad, V.
Qi, H.
Qi, H. R.
Qi, K. H.
Qi, M.
Qi, T. Y.
Qian, S.
Qian, W. B.
Qian, Z.
Qiao, C. F.
Qin, L. Q.
Qin, X. P.
Qin, X. S.
Qin, Z. H.
Qiu, J. F.
Qu, S. Q.
Rashid, K. H.
Ravindran, K.
Redmer, C. F.
Rivetti, A.
Rodin, V.
Rolo, M.
Rong, G.
Rosner, Ch.
Rump, M.
Sang, H. S.
Sarantsev, A.
Schelhaas, Y.
Schnier, C.
Schoenning, K.
Scodeggio, M.
Shan, D. C.
Shan, W.
Shan, X. Y.
Shangguan, J. F.
Shao, M.
Shen, C. P.
Shen, H. F.
Shen, P. X.
Shen, X. Y.
Shi, H. C.
Shi, R. S.
Shi, X.
Shi, X. D
Song, J. J.
Song, W. M.
Song, Y. X.
Sosio, S.
Spataro, S.
Su, K. X.
Su, P. P.
Sui, F. F.
Sun, G. X.
Sun, H. K.
Sun, J. F.
Sun, L.
Sun, S. S.
Sun, T.
Sun, W. Y.
Sun, X
Sun, Y. J.
Sun, Y. K.
Sun, Y. Z.
Sun, Z. T.
Tan, Y. H.
Tan, Y. X.
Tang, C. J.
Tang, G. Y.
Tang, J.
Teng, J. X.
Thoren, V.
Tian, W. H.
Tian, Y. T.
Uman, I.
Wang, B.
Wang, C. W.
Wang, D. Y.
Wang, H. J.
Wang, H. P.
Wang, K.
Wang, L. L.
Wang, M.
Wang, M. Z.
Wang, Meng
Wang, W.
Wang, W. H.
Wang, W. P.
Wang, X.
Wang, X. F.
Wang, X. L.
Wang, Y.
Wang, Y. D.
Wang, Y. F.
Wang, Y. Q.
Wang, Y. Y.
Wang, Z.
Wang, Z. Y.
Wang, Ziyi
Wang, Zongyuan
Wei, D. H.
Weidner, F.
Wen, S. P.
White, D. J.
Wiedner, U.
Wilkinson, G.
Wolke, M.
Wollenberg, L.
Wu, J. F.
Wu, L. H.
Wu, L. J.
Wu, X.
Wu, Z.
Xia, L.
Xiao, H.
Xiao, S. Y.
Xiao, Z. J.
Xie, X. H.
Xie, Y. G.
Xie, Y. H.
Xing, T. Y.
Xu, G. F.
Xu, Q. J.
Xu, W.
Xu, X. P.
Xu, Y. C.
Yan, F.
Yan, L.
Yan, W. B.
Yan, W. C.
Yan, Xu
Yang, H. J.
Yang, H. X.
Yang, L.
Yang, S. L.
Yang, Y. X.
Yang, Yifan
Yang, Zhi
Ye, M.
Ye, M. H.
Yin, J. H.
You, Z. Y.
Yu, B. X.
Yu, C. X.
Yu, G.
Yu, J. S.
Yu, T.
Yuan, C. Z.
Yuan, L.
Yuan, X. Q.
Yuan, Y.
Yuan, Z. Y.
Yue, C. X.
Zafar, A. A.
Zeng, X. Zeng
Zeng, Y.
Zhang, A. Q.
Zhang, B. X.
Zhang, Guangyi
Zhang, H.
Zhang, H. H.
Zhang, H. Y.
Zhang, J. J.
Zhang, J. L.
Zhang, J. Q.
Zhang, J. W.
Zhang, J. Y.
Zhang, J. Z.
Zhang, Jianyu
Zhang, Jiawei
Zhang, L. M.
Zhang, L. Q.
Zhang, Lei
Zhang, S.
Zhang, S. F.
Zhang, Shulei
Zhang, X. D.
Zhang, X. Y.
Zhang, Y.
Zhang, Y. T.
Zhang, Y. H.
Zhang, Yan
Zhang, Yao
Zhang, Z. H.
Zhang, Z. Y.
Zhao, G.
Zhao, J.
Zhao, J. Y.
Zhao, J. Z.
Zhao, Lei
Zhao, Ling
Zhao, M. G.
Zhao, Q.
Zhao, S. J.
Zhao, Y. B.
Zhao, Y. X.
Zhao, Z. G.
Zhemchugov, A.
Zheng, B.
Zheng, J. P.
Zheng, Y.
Zheng, Y. H.
Zhong, B.
Zhong, C.
Zhou, L. P.
Zhou, Q.
Zhou, X.
Zhou, X. K.
Zhou, X. R.
Zhou, X. Y.
Zhu, A. N.
Zhu, J.
Zhu, K.
Zhu, K. J.
Zhu, S. H.
Zhu, T. J.
Zhu, W. J.
Zhu, Y. C.
Zhu, Z. A.
Zou, B. S.
Zou, J. H.
Source :
Phys. Rev. D 104, 012003 (2021)
Publication Year :
2021

Abstract

We measure the inclusive semielectronic decay branching fraction of the $D_s^+$ meson. A double-tag technique is applied to $e^+e^-$ annihilation data collected by the BESIII experiment at the BEPCII collider, operating in the center-of-mass energy range $4.178 - 4.230$ GeV. We select positrons from $D_s^+\rightarrow Xe^{+}\nu_e$ with momenta greater than 200 MeV/$c$, and determine the laboratory momentum spectrum, accounting for the effects of detector efficiency and resolution. The total positron yield and semielectronic branching fraction are determined by extrapolating this spectrum below the momentum cutoff. We measure the $D_s^+$ semielectronic branching fraction to be $\mathcal{B}\left(D_s^+\rightarrow Xe^{+}\nu_e\right)=\left(6.30\pm0.13\;(\text{stat.})\pm 0.10\;(\text{syst.})\right)\%$, showing no evidence for unobserved exclusive semielectronic modes. We combine this result with external data taken from literature to determine the ratio of the $D_s^+$ and $D^0$ semielectronic widths, $\frac{\Gamma(D_{s}^{+}\rightarrow Xe^+\nu_e)}{\Gamma(D^0\rightarrow Xe^+\nu_e)}=0.790\pm 0.016\;(\text{stat.})\pm0.020\;(\text{syst.})$. Our results are consistent with and more precise than previous measurements.<br />Comment: 62 pages in total, 9 figures, 8 tables, to be submitted to Phys. Rev. D

Subjects

Subjects :
High Energy Physics - Experiment

Details

Database :
arXiv
Journal :
Phys. Rev. D 104, 012003 (2021)
Publication Type :
Report
Accession number :
edsarx.2104.07311
Document Type :
Working Paper
Full Text :
https://doi.org/10.1103/PhysRevD.104.012003