Back to Search Start Over

Search for Electron Antineutrino Appearance in a Long-baseline Muon Antineutrino Beam

Authors :
Abe, K.
Akutsu, R.
Ali, A.
Alt, C.
Andreopoulos, C.
Anthony, L.
Antonova, M.
Aoki, S.
Ariga, A.
Asada, Y.
Ashida, Y.
Atkin, E. T.
Awataguchi, Y.
Ban, S.
Barbi, M.
Barker, G. J.
Barr, G.
Barrow, D.
Barry, C.
Batkiewicz-Kwasniak, M.
Beloshapkin, A.
Bench, F.
Berardi, V.
Berkman, S.
Berns, L.
Bhadra, S.
Bienstock, S.
Blondel, A.
Bolognesi, S.
Bourguille, B.
Boyd, S. B.
Brailsford, D.
Bravar, A.
Berguno, D. Bravo
Bronner, C.
Bubak, A.
Avanzini, M. Buizza
Calcutt, J.
Campbell, T.
Cao, S.
Cartwright, S. L.
Catanesi, M. G.
Cervera, A.
Chappell, A.
Checchia, C.
Cherdack, D.
Chikuma, N.
Christodoulou, G.
Coleman, J.
Collazuol, G.
Cook, L.
Coplowe, D.
Cudd, A.
Dabrowska, A.
DeRosa, G.
Dealtry, T.
Denner, P. F.
Dennis, S. R.
Densham, C.
DiLodovico, F.
Dokania, N.
Dolan, S.
Doyle, T. A.
Drapier, O.
Dumarchez, J.
Dunne, P.
Eklund, L.
Emery-Schrenk, S.
Ereditato, A.
Fernandez, P.
Feusels, T.
Finch, A. J.
Fiorentini, G. A.
Fiorillo, G.
Francois, C.
Friend, M.
Fujii, Y.
Fujita, R.
Fukuda, D.
Fukuda, R.
Fukuda, Y.
Fusshoeller, K.
Gameil, K.
Giganti, C.
Golan, T.
Gonin, M.
Gorin, A.
Guigue, M.
Hadley, D. R.
Haigh, J. T.
Hamacher-Baumann, P.
Hartz, M.
Hasegawa, T.
Hastings, N. C.
Hayashino, T.
Hayato, Y.
Hiramoto, A.
Hogan, M.
Holeczek, J.
HongVan, N. T.
Iacob, F.
Ichikawa, A. K.
Ikeda, M.
Ishida, T.
Ishii, T.
Ishitsuka, M.
Iwamoto, K.
Izmaylov, A.
Jakkapu, M.
Jamieson, B.
Jenkins, S. J.
Jesus-Valls, C.
Jiang, M.
Johnson, S.
Jonsson, P.
Jung, C. K.
Kabirnezhad, M.
Kaboth, A. C.
Kajita, T.
Kakuno, H.
Kameda, J.
Karlen, D.
Kasetti, S. P.
Kataoka, Y.
Katori, T.
Kato, Y.
Kearns, E.
Khabibullin, M.
Khotjantsev, A.
Kikawa, T.
Kim, H.
Kim, J.
King, S.
Kisiel, J.
Knight, A.
Knox, A.
Kobayashi, T.
Koch, L.
Koga, T.
Konaka, A.
Kormos, L. L.
Koshio, Y.
Kostin, A.
Kowalik, K.
Kubo, H.
Kudenko, Y.
Kukita, N.
Kuribayashi, S.
Kurjata, R.
Kutter, T.
Kuze, M.
Labarga, L.
Lagoda, J.
Lamoureux, M.
Laveder, M.
Lawe, M.
Licciardi, M.
Lindner, T.
Litchfield, R. P.
Liu, S. L.
Li, X.
Longhin, A.
Ludovici, L.
Lu, X.
Lux, T.
Machado, L. N.
Magaletti, L.
Mahn, K.
Malek, M.
Manly, S.
Maret, L.
Marino, A. D.
Marti-Magro, L.
Martin, J. F.
Maruyama, T.
Matsubara, T.
Matsushita, K.
Matveev, V.
Mavrokoridis, K.
Mazzucato, E.
McCarthy, M.
McCauley, N.
McFarland, K. S.
McGrew, C.
Mefodiev, A.
Metelko, C.
Mezzetto, M.
Minamino, A.
Mineev, O.
Mine, S.
Miura, M.
Bueno, L. Molina
Moriyama, S.
Morrison, J.
Mueller, Th. A.
Munteanu, L.
Murphy, S.
Nagai, Y.
Nakadaira, T.
Nakahata, M.
Nakajima, Y.
Nakamura, A.
Nakamura, K. G.
Nakamura, K.
Nakayama, S.
Nakaya, T.
Nakayoshi, K.
Nantais, C.
Ngoc, T. V.
Niewczas, K.
Nishikawa, K.
Nishimura, Y.
Nonnenmacher, T. S.
Nova, F.
Novella, P.
Nowak, J.
Nugent, J. C.
O'Keeffe, H. M.
O'Sullivan, L.
Odagawa, T.
Okumura, K.
Okusawa, T.
Oser, S. M.
Owen, R. A.
Oyama, Y.
Palladino, V.
Palomino, J. L.
Paolone, V.
Parker, W. C.
Pasternak, J.
Paudyal, P.
Pavin, M.
Payne, D.
Penn, G. C.
Pickering, L.
Pidcott, C.
Pintaudi, G.
PinzonGuerra, E. S.
Pistillo, C.
Popov, B.
Porwit, K.
Posiadala-Zezula, M.
Pritchard, A.
Quilain, B.
Radermacher, T.
Radicioni, E.
Radics, B.
Ratoff, P. N.
Reinherz-Aronis, E.
Riccio, C.
Rondio, E.
Roth, S.
Rubbia, A.
Ruggeri, A. C.
Ruggles, C. A.
Rychter, A.
Sakashita, K.
Sanchez, F.
Schloesser, C. M.
Scholberg, K.
Schwehr, J.
Scott, M.
Seiya, Y.
Sekiguchi, T.
Sekiya, H.
Sgalaberna, D.
Shah, R.
Shaikhiev, A.
Shaker, F.
Shaykina, A.
Shiozawa, M.
Shorrock, W.
Shvartsman, A.
Smirnov, A.
Smy, M.
Sobczyk, J. T.
Sobel, H.
Soler, F. J. P.
Sonoda, Y.
Steinmann, J.
Suvorov, S.
Suzuki, A.
Suzuki, S. Y.
Suzuki, Y.
Sztuc, A. A.
Tada, M.
Tajima, M.
Takeda, A.
Takeuchi, Y.
Tanaka, H. K.
Tanaka, H. A.
Tanaka, S.
Thompson, L. F.
Toki, W.
Touramanis, C.
Towstego, T.
Tsui, K. M.
Tsukamoto, T.
Tzanov, M.
Uchida, Y.
Uno, W.
Vagins, M.
Valder, S.
Vallari, Z.
Vargas, D.
Vasseur, G.
Vilela, C.
Vinning, W. G. S.
Vladisavljevic, T.
Volkov, V. V.
Wachala, T.
Walker, J.
Walsh, J. G.
Wang, Y.
Wark, D.
Wascko, M. O.
Weber, A.
Wendell, R.
Wilking, M. J.
Wilkinson, C.
Wilson, J. R.
Wilson, R. J.
Wood, K.
Wret, C.
Yamada, Y.
Yamamoto, K.
Yanagisawa, C.
Yang, G.
Yano, T.
Yasutome, K.
Yen, S.
Yershov, N.
Yokoyama, M.
Yoshida, T.
Yu, M.
Zalewska, A.
Zalipska, J.
Zaremba, K.
Zarnecki, G.
Ziembicki, M.
Zimmerman, E. D.
Zito, M.
Zsoldos, S.
Zykova, A.
Source :
Phys. Rev. Lett. 124, 161802 (2020)
Publication Year :
2019

Abstract

Electron antineutrino appearance is measured by the T2K experiment in an accelerator-produced antineutrino beam, using additional neutrino beam operation to constrain parameters of the PMNS mixing matrix. T2K observes 15 candidate electron antineutrino events with a background expectation of 9.3 events. Including information from the kinematic distribution of observed events, the hypothesis of no electron antineutrino appearance is disfavored with a significance of 2.40{\sigma} and no discrepancy between data and PMNS predictions is found. A complementary analysis that introduces an additional free parameter which allows non-PMNS values of electron neutrino and antineutrino appearance also finds no discrepancy between data and PMNS predictions.<br />Comment: arXiv admin note: text overlap with arXiv:1910.09439

Subjects

Subjects :
High Energy Physics - Experiment

Details

Database :
arXiv
Journal :
Phys. Rev. Lett. 124, 161802 (2020)
Publication Type :
Report
Accession number :
edsarx.1911.07283
Document Type :
Working Paper
Full Text :
https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.124.161802
Full Text Access
View/download PDF

Tools

Authors Abstract Subjects Details