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Tiefenselektive Phasenanalyse Si-ionenimplantierter '-Fe-Oberflächen mittels DCEMS

Authors :
Walterfang, M.
Kruijer, S.
Keune, W.
Dobler, M.
Reuther, H.
Source :
DPG-Frühjahrstagung, Regensburg, March 23-27,1998
Publication Year :
1998

Details

Language :
German
Database :
OpenAIRE
Journal :
DPG-Frühjahrstagung, Regensburg, March 23-27,1998
Accession number :
edsair.od......4577..699d903599cd56c9b05924cd223a06ea

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