Multiskalige Oberflächen-Inspektion mit Wavelets und Deflektometrie

Für die automatisierte Prüfung (teil)-spiegelnder Oberflächen kann die Deflektometrie als flächiges, optisches Messverfahren dienen, um die Geometrie großer Bereiche der Oberfläche zu erfassen. Für die Inspektion ist es nun nötig, Oberflächenfehler in den Messdaten zu detektieren und zu klassifizieren. Vorgestellt werden Wavelet-basierte Methoden, die diese Problemstellung effizient lösen. Die vorgestellte Methodik kombiniert dabei zwei bekannte grundlegende Verfahren: die Erfassung der Oberflächengeometrie mittels Deflektometrie und die Signalanalyse mittels Wavelet-Analyse. Während die Deflektometrie hochwertige geometrische Messdaten einer Prüfoberfläche bereitstellt, ermöglicht die Wavelet-Analyse eine problemangepasste Detektion und Klassifikation von Defekten. Der Vorteil der neuen Methodik besteht nun darin, dass der nötige Aufwand zum Einlernen einer neuen Defektklasse verhältnismäßig gering ist.