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イオンビーム,中性子線,X線を用いた材料中水素の高度解析
- Source :
- 水素エネルギーシステム. 46(1):28-34
- Publication Year :
- 2021
- Publisher :
- 一般社団法人水素エネルギー協会, 2021.
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Abstract
- 原子番号1番の水素は多くの実験プローブに感度がなく,水素を観測するためには水素の原子核であるプロトンを直接観測する必要がある.イオンと中性子はプロトンを直接検出できるため、水素関係材料の研究に用いられている.本稿では,イオンビームによる核反応法と中性子およびX線回折を利用した水素関係先端材料研究について解説し,最近の成果を紹介する.
Details
- Language :
- Japanese
- ISSN :
- 13416995
- Volume :
- 46
- Issue :
- 1
- Database :
- OpenAIRE
- Journal :
- 水素エネルギーシステム
- Accession number :
- edsair.jairo.........571008652123bafe51ce8867fde8d137