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Strain mapping of ultrathin epitaxial ZnTe and MnTe layers embedded in CdTe

Authors :
Henri Mariette
Guy Feuillet
Joel Cibert
Pierre-Henri Jouneau
A. Tardot
Nanophysique et Semiconducteurs (NPSC)
PHotonique, ELectronique et Ingénierie QuantiqueS (PHELIQS)
Université Grenoble Alpes [2016-2019] (UGA [2016-2019])-Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG)
Direction de Recherche Fondamentale (CEA) (DRF (CEA))
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Direction de Recherche Fondamentale (CEA) (DRF (CEA))
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Grenoble Alpes [2016-2019] (UGA [2016-2019])-Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG)
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)
Laboratoire de Spectrométrie Physique (LSP)
Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Source :
Journal of Applied Physics, Journal of Applied Physics, 1994, 75 (11), pp.7310-7316. ⟨10.1063/1.356641⟩
Publication Year :
1994
Publisher :
AIP Publishing, 1994.

Abstract

High-resolution electron microscopy is used to investigate the morphology of ultrathin pseudomorphic (001) ZnTe and MnTe strained layers grown in CdTe. Local distortions of the crystal lattice are measured directly on high-resolution images by use of image processing software. In the case of ZnTe/CdTe superlattices, the method yields the location of Zn within each place in the heterostructure and the total amount of Zn per period. For MnTe layers embedded in CdTe, one can deduce the atomic morphology of the interfaces which are shown to present a clear asymmetry.

Details

ISSN :
10897550 and 00218979
Volume :
75
Database :
OpenAIRE
Journal :
Journal of Applied Physics
Accession number :
edsair.doi.dedup.....fa2375344e7437db13cb6c4109d5a74b
Full Text :
https://doi.org/10.1063/1.356641