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CO2 Laser irradiation of GeO2 planar waveguide fabricated by rf-sputtering

Authors :
Carlos Eugenio Macchi
Lorenzo Lunelli
R. S. Brusa
C. Mariazzi
Maurizio Ferrari
Sreeramulu Valligatla
C. Pederzolli
D. N. Rao
Alberto Somoza
Alessandro Chiasera
Source :
Optical materials express 3 (2013): 1561–1570. doi:10.1364/OME.3.001561, info:cnr-pdr/source/autori:A. Chiasera, C. Macchi, S. Mariazzi, S. Valligatla, L. Lunelli, C. Pederzolli, D.N. Rao, A. Somoza, R.S. Brusa, and M. Ferrari/titolo:CO2 Laser irradiation of GeO2 planar waveguide fabricated by rf-sputtering/doi:10.1364%2FOME.3.001561/rivista:Optical materials express/anno:2013/pagina_da:1561/pagina_a:1570/intervallo_pagine:1561–1570/volume:3, CIC Digital (CICBA), Comisión de Investigaciones Científicas de la Provincia de Buenos Aires, instacron:CICBA, CONICET Digital (CONICET), Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas, instacron:CONICET
Publication Year :
2013
Publisher :
OSA Pub., Washington, DC , Stati Uniti d'America, 2013.

Abstract

GeO2 transparent glass ceramic planar waveguides were fabricated by a RF-sputtering technique and then irradiated by a pulsed CO2 laser. The effects of CO2 laser processing on the optical and structural properties of the waveguides were evaluated by different techniques including m-line, micro-Raman spectroscopy, atomic force microscopy, and positron annihilation spectroscopy. After laser annealing, an increase of the refractive index of approximately 0.04 at 1.5 μm and a decrease of the attenuation coefficient from 0.9 to 0.5 db/cm at 1.5 μm was observed. Raman spectroscopy and microscopy results put in evidence that the system embeds GeO2 nanocrystals and their phase varies with the irradiation time. Moreover, positron annihilation spectroscopy was used to study the depth profiling of the as prepared and laser annealed samples. The obtained results yielded information on the structural changes produced after the irradiation process inside the waveguiding films of approximately 1 μm thickness. In addition, a density value of the amorphous GeO2 samples was evaluated. Fil: Chiasera, A.. Consiglio Nazionale delle Ricerche. Istituto di Fotonica e Nanotecnologie; Italia Fil: Macchi, Carlos Eugenio. Universidad Nacional del Centro de la Provincia de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas. Instituto de Física de Materiales; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Tandil. Centro de Investigaciones en Física e Ingeniería del Centro de la Provincia de Buenos Aires; Argentina Fil: Mariazzi, C.. Università di Trento. Dipartimento di Fisica; Italia Fil: Valligatla, S.. Consiglio Nazionale delle Ricerche. Istituto di Fotonica e Nanotecnologie; Italia. University of Hyderabad. School of Physics; India. Università di Trento. Dipartimento di Fisica; Italia Fil: Lunelli, L.. Bruno Kessler Foundation; Italia. National Research Council Institute of Biophysics; Italia Fil: Pederzolli, C.. Bruno Kessler Foundation; Italia Fil: Rao, D. N.. University of Hyderabad. School of Physics; India Fil: Somoza, Alberto Horacio. Universidad Nacional del Centro de la Provincia de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas. Instituto de Física de Materiales; Argentina. Provincia de Buenos Aires. Gobernación. Comisión de Investigaciones Científicas; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Tandil. Centro de Investigaciones en Física e Ingeniería del Centro de la Provincia de Buenos Aires; Argentina Fil: Brusa, R. S.. Università di Trento. Dipartimento di Fisica; Italia Fil: Ferrari, M.. Consiglio Nazionale delle Ricerche. Istituto di Fotonica e Nanotecnologie; Italia

Details

Language :
English
Database :
OpenAIRE
Journal :
Optical materials express 3 (2013): 1561–1570. doi:10.1364/OME.3.001561, info:cnr-pdr/source/autori:A. Chiasera, C. Macchi, S. Mariazzi, S. Valligatla, L. Lunelli, C. Pederzolli, D.N. Rao, A. Somoza, R.S. Brusa, and M. Ferrari/titolo:CO2 Laser irradiation of GeO2 planar waveguide fabricated by rf-sputtering/doi:10.1364%2FOME.3.001561/rivista:Optical materials express/anno:2013/pagina_da:1561/pagina_a:1570/intervallo_pagine:1561–1570/volume:3, CIC Digital (CICBA), Comisión de Investigaciones Científicas de la Provincia de Buenos Aires, instacron:CICBA, CONICET Digital (CONICET), Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas, instacron:CONICET
Accession number :
edsair.doi.dedup.....f5784b990cc5a4922d7bddba609ddcb6