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A hybrid prognostics approach for MEMS: From real measurements to remaining useful life estimation

Authors :
Eugen Dedu
Haithem Skima
Julien Bourgeois
Kamal Medjaher
Christophe Varnier
Centre National de la Recherche Scientifique - CNRS (FRANCE)
Ecole Nationale Supérieure de Mécanique et des Microtechniques - ENSMM (FRANCE)
Institut National Polytechnique de Toulouse - INPT (FRANCE)
Université de Franche-Comté (FRANCE)
Université de Technologie de Belfort-Montbéliard - UTBM (FRANCE)
Université Bourgogne Franche-Comté - UBFC (FRANCE)
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174) (FEMTO-ST)
Université de Technologie de Belfort-Montbeliard (UTBM)-Ecole Nationale Supérieure de Mécanique et des Microtechniques (ENSMM)-Université de Franche-Comté (UFC)
Université Bourgogne Franche-Comté [COMUE] (UBFC)-Université Bourgogne Franche-Comté [COMUE] (UBFC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Laboratoire Génie de Production (LGP)
Ecole Nationale d'Ingénieurs de Tarbes
Ecole Nationale d'Ingénieurs de Tarbes (ENIT)
Institut National Polytechnique de Toulouse - Toulouse INP (FRANCE)
Source :
Microelectronics Reliability, Microelectronics Reliability, Elsevier, 2016, 65, pp.79-88. ⟨10.1016/j.microrel.2016.07.142⟩, Microelectronics Reliability, Elsevier, 2016, 65, pp.79-88
Publication Year :
2016
Publisher :
Elsevier, 2016.

Abstract

International audience; This paper presents a hybrid prognostics approach for Micro Electro Mechanical Systems (MEMS). This approach relies on two phases: an offline phase for the MEMS and its degradation modeling, and an online phase where the obtained degradation model is used with the available data for prognostics. In the online phase, the particle filter algorithm is used to perform online parameters estimation of the degradation model and predict the Remaining Useful Life (RUL) of MEMS. The effectiveness of the proposed approach is validated on experimental data related to an electro-thermally actuated MEMS valve.

Details

Language :
English
ISSN :
00262714
Database :
OpenAIRE
Journal :
Microelectronics Reliability
Accession number :
edsair.doi.dedup.....dcd9d9280baf492ccbc4bcbb50d5ec9e
Full Text :
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2016.07.142⟩