Mineralogical investigations using XRD, XRF, and Raman spectroscopy in a combined approach

Authors :: M Secchi
Marco Zanatta
Marco Giarola
Beate Orberger
Gino Mariotto
Luca Lutterotti
Stefano Gialanella
Evgeny Borovin
Andrea Sanson
Mauro Bortolotti
Arun Kumar
Maurizio Montagna
Nicola Daldosso
Dipartimento di Ingegneria dei Materiali
Università degli Studi di Trento (UNITN)
Department of Computer Science [Verona] (UNIVR | DI)
University of Verona (UNIVR)
IBM Research-India
Universita degli Studi di Padova
Géosciences Paris Sud (GEOPS)
Université Paris-Sud - Paris 11 (UP11)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Dipartimento di Fisica (Università Degli Studi di Trento)
Università degli Studi di Trento (UNITN)-Istituto Nazionale per la Fisica della Materia (INFM)-Caratterizzazione e Sviluppo di Materiali per la Fotonica e l'Optoelecttronica (CSMFO)
Source :: Journal of Raman Spectroscopy, Journal of Raman Spectroscopy, Wiley, 2018, 49 (6), pp.1023-1030. ⟨10.1002/jrs.5386⟩
Publication Year :: 2018
Abstract: International audience

Language :: English
ISSN :: 03770486 and 10974555
Database :: OpenAIRE
Journal :: Journal of Raman Spectroscopy, Journal of Raman Spectroscopy, Wiley, 2018, 49 (6), pp.1023-1030. ⟨10.1002/jrs.5386⟩
Accession number :: edsair.doi.dedup.....d9f1b9a0749e38ee5a1ac20725f42e52

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