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Study of the Impedance of the Bypassing Network of a Switching Cell – Influence of the Positioning of the Decoupling Capacitors

Authors :
Francois Costa
Mickael Petit
Yoann Pascal
Denis Labrousse
Systèmes et Applications des Technologies de l'Information et de l'Energie (SATIE)
École normale supérieure - Cachan (ENS Cachan)-Université Paris-Sud - Paris 11 (UP11)-Institut Français des Sciences et Technologies des Transports, de l'Aménagement et des Réseaux (IFSTTAR)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Université de Cergy Pontoise (UCP)
Université Paris-Seine-Université Paris-Seine-Conservatoire National des Arts et Métiers [CNAM] (CNAM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Electronique de Puissance et Intégration (SATIE-EPI)
Composants et Systèmes pour l'Energie Electrique (CSEE)
Université Paris-Seine-Université Paris-Seine-Conservatoire National des Arts et Métiers [CNAM] (CNAM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École normale supérieure - Cachan (ENS Cachan)-Université Paris-Sud - Paris 11 (UP11)-Institut Français des Sciences et Technologies des Transports, de l'Aménagement et des Réseaux (IFSTTAR)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Université de Cergy Pontoise (UCP)
Université Paris-Seine-Université Paris-Seine-Conservatoire National des Arts et Métiers [CNAM] (CNAM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Systèmes et Applications des Technologies de l'Information et de l'Energie (SATIE)
ANR-15-CE05-0010,HIT-TEMS,Nouvelle technologie d'intégration hybride d'un convertisseur entrelacé multiniveaux sûr et reconfigurable sous contraintes thermiques et CEM(2015)
PASCAL, Yoann
Nouvelle technologie d'intégration hybride d'un convertisseur entrelacé multiniveaux sûr et reconfigurable sous contraintes thermiques et CEM - - HIT-TEMS2015 - ANR-15-CE05-0010 - AAPG2015 - VALID
Source :
International Workshop on Integrated Power Packaging, International Workshop on Integrated Power Packaging, Apr 2019, Toulouse, France, HAL
Publication Year :
2019
Publisher :
IEEE, 2019.

Abstract

International audience; Mechanisms responsible for ringing and oscillations in power converters at transistors turn-offs are, first, studied using small signal modelling. It is explained why a 50 % derating must be applied to high-speed transistors. Experimental measurements validate the analytical predictions. The influence of the distance between a switching cell and its decoupling capacitors is then studied; it appears that using a low-inductance – though simple – layout results in a stray inductance as low as 11 nH when the capacitor is 30 cm away from the switching cell, enabling degrees of freedom for thermal management.

Details

Database :
OpenAIRE
Journal :
2019 IEEE International Workshop on Integrated Power Packaging (IWIPP)
Accession number :
edsair.doi.dedup.....acd9aee894dff6f31fd0e9585611975d