Measurement of K Level Natural Line Widths, Kα1 and Kα2 X-Ray Line Widths

Bu çalışmada Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu ve Zn element ve bileşiklerinin K kabuğu doğal çizgi genişlikleri ile Kα1 ve Kα2 X-ışını çizgi genişlikleri yarı deneysel olarak, K kabuk flüoresans verimi değerleri kullanılarak hesaplandı. Numuneleri uyarmak için 75mCi şiddetinde ve 59. 5 keV enerjili gama ışınları yayınlayan 241Am radyoizotop kaynağı kullanıldı. Numunelerden yayınlanan K X-ışınlarını saymak için çözünürlüğü 5.96 keV'de 155 eV olan katı hal Si(Li) detektörü kullanıldı. Kimyasal yapıya bağlı olarak K seviyesi doğal çizgi genişliği ile Kα1 ve Kα2 X-ışını çizgi genişliklerinin değiştiği tespit edildi. Sonuçlar bileşiklerde ölçülen ΓK, ΓKα1 and ΓKα2 çizgi genişliklerinin saf element değerlerine göre % 5-48 kadar değiştiğini göstermektedir. Ancak, saf elementler için ölçülen deneysel sonuçlar, literatürdeki diğer araştırmacıların sonuçlarıyla hata sınırları dâhilinde iyi bir uyum içinde olduğu bulunmuştur.
In this study, the K shell natural line widths with K1 and K2 X-ray line widths of Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu and Zn elements and compounds were semi-experimentally calculated by using the values of K shell fluorescence yield. An 241Am radioisotope source, emitting in 75 mCi intensity and 59.5 keV energy gamma rays was used to stimulate the samples. A solid state Si(Li) detector have a resolution 155 eV at 5.96 keV, was used to count K X-rays emitted from the specimens. It was determined that the X-ray line widths of ΓK1 and ΓK2 and the natural line width of the ΓK K level vary depending on the chemical structure. The results show that ΓK, ΓK1 and ΓK2 line widths measured in compounds deviated up to 5-48% from according to values of the pure element. The present results, for pure elements, are in good agreement with the results of other researchers in the literature within the limits of error.