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Etude et synthèse de résines positives sensibles aux électrons et aux rayons X utilisées dans les procédés de microlithographie
- Source :
- Revue de Physique Appliquée, Revue de Physique Appliquée, Société française de physique / EDP, 1985, 20 (2), pp.77-86. ⟨10.1051/rphysap:0198500200207700⟩
- Publication Year :
- 1985
- Publisher :
- HAL CCSD, 1985.
-
Abstract
- En vue d'améliorer la sensibilité des résines positives deux directions de recherche ont été poursuivies : — l'une a trait aux poly(méthacrylates d'alcoyle) fluorés sur la chaîne ester avec des structures et des longueurs de chaînes différentes, — l'autre a trait aux poly(α-cyanoacrylates d'alcoyle). Les caractéristiques lithographiques des différentes résines synthétisées et exposées à l'action d'un rayonnement (électrons et RX) font l'objet de ce travail.
- Subjects :
- Materials science
electron sensitive positive resists
020209 energy
02 engineering and technology
Electron resists
021001 nanoscience & nanotechnology
sensitivity
poly alkyl alpha cyanoacrylates
electron beam lithography
Resist
poly alkylmethacrylate ester chains
electron resists
X ray sensitive positive resists
[PHYS.HIST]Physics [physics]/Physics archives
photoresists
0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering
Physical chemistry
X-ray lithography
microlithography
0210 nano-technology
Electron-beam lithography
polymers
Subjects
Details
- Language :
- French
- ISSN :
- 00351687 and 27773671
- Database :
- OpenAIRE
- Journal :
- Revue de Physique Appliquée, Revue de Physique Appliquée, Société française de physique / EDP, 1985, 20 (2), pp.77-86. ⟨10.1051/rphysap:0198500200207700⟩
- Accession number :
- edsair.doi.dedup.....432132d3215154ce53488e4822c6c561
- Full Text :
- https://doi.org/10.1051/rphysap:0198500200207700⟩