Skip to search
Skip to main content
Back to Search
Start Over
Measurement of pp single diffraction dissociation at √s = 546 and 1800 GeV
Authors :
Fvautschi, M. Abe, F. Albrow, M. G. Amidei, D. Anway-Wiese, C. Apollinari, G. Atac, M. Auchindoss, P. Azzi, P. Bacchetta, N. Baden, A. R. Badgett, W. Bailey, M. W. Bamberger, A. De Barbaro, P. Barbaro-Galtieri, A. Barnes, V. E. Barnett, B. A. Bauer, G. Baumann, T. Bedeschi, F. Behrends, S. Belforte, S. Bellettini, G. Bellinger, J. Benjamin, D. Benlloch, J. Bensinger, J. Beretvas, Andrew Berge, J. P. Bertolucci, S. Biery, K. Bhadra, S. Binkley, M. Bisello, D. Blair, R. Blocker, C. Bodek, A. Bolognesi, V. Booth, A. W. Boswell, C. Brandenburg, G. Brown, D. Buckley-Geer, E. Budd, H. S. Busetto, G. Byon-Wagner, A. Byrum, K. L. Campagnari, C. Campbell, M. Caner, A. Carey, R. Carithers, W. Carlsmith, D. Carroll, J. T. Cashmore, R. Castro, A. Cen, Y. Cervelli, F. Chadwick, K. Chapman, J. Chapin, T. J. Chiarelli, G. Chinowsky, W. Cihangir, S. Clark, A. G. Cobal, M. Connor, D. Contreras, M. Cooper, J. M. Cordelli, M. Crane, D. Cunningham, J. D. Day, C. Dejongh, F. Dell'Agnello, Simone Dell'orso, M. Demortier, L. Denby, B. Derwent, P. F. Devlin, T. Dickson, M. Drucker, R. B. Dunn, A. Einsweiler, K. Elias, John E. Ely, R. Eno, S. Errede, S. Etchegoyen, A. Farhat, B. Feldman, G. J. Flaugher, B. Foster, G. W. Franklin, M. Freeman, J. Fuess, T. Fukui, Y. Garfinkel, A. F. Gauthier, A. Geer, S. Gerdes, D. W. Giannetti, P. Giokaris, N. Giromini, P. Gladney, L. Gold, M. Gonzalez, J. Goulianos, Konstantin Grassmann, H. Grieco, M. Grindley, R. Grosso-Pilcher, C. Haber, C. Hahn, S. R. Handler, R. Hara, K. Harral, B. Harris, R. M. Hauger, S. A. Hauser, J. Hawk, C. Hessing, T. Hollebeek, R. Holloway, L. Holscher, A. Hong, S. Houk, G. Hu, P. Hubbard, B. Huffman, B. T. Hughes, R. Hurst, P. Huth, J. Hylen, J. Incagli, M. Ino, T. Iso, H. Jessop, C. P. Johnson, R. P. Joshi, U. Kadel, R. W. Kamon, T. Kanda, S. Kardelis, D. A. Karliner, I. Kearns, E. Keeble, L. Kephart, R. Kesten, P. Keup, R. M. Keutelian, H. Kim, D. Kim, S. B. Kim, S. H. Kim, Y. K. Kirsch, L. Kondo, K. Konigsberg, J. Kordas, Kostas Kovács, Eve V. Krasberg, M. Kuhlmann, S. E. Kuns, E. Laasanen, A. T. Lammel, S. Lamoureux, J. I. Leone, S. Lewis, J. D. Li, W. Limon, P. Lindgren, M. Liss, T. M. Lockyer, N. Loreti, M. Low, E. H. Lucchesi, D. Luchini, C. B. Lukens, P. Maas, P. Maeshima, K. Mangano, M. Marriner, J. P. Mariotti, M. Markeloff, R. Markosky, L. A. Matthews, J. A. J. Mattingly, R. McLntyre, P. Menzione, A. Meschi, E. Meyer, T. Mikamo, S. Miller, M. Mimashi, T. Miscetti, S. Mishina, M. Miyashita, S. Morita, Y. Moulding, S. Mueller, J. Mukherjee, A. Muller, T. Nakae, L. F. Nakano, I. Nelson, C. Neuberger, D. Newman-Holmes, C. Ng, J. S. T. Ninomiya, M. Nodulman, L. Ogawa, S. Paoletti, R. Papadimitriou, Vaia Para, A. Pare, E. Park, S. Patrick, J. Pauletta, G. Pescara, L. Phillips, T. J. Piacentino, A. G. Plunkett, R. Pondrom, L. Proudfoot, J. Ptohos, Fotios Punzi, G. Quarrie, D. Ragan, K. Redlinger, G. Rhoades, J. Roach, M. Rimondi, F. Ristori, L. Robertson, W. J. Rodrigo, T. Rohaly, T. Roodman, A. Sakumoto, W. K. Sansoni, A. Sard, R. D. Savoy-Navarro, A. Scarpine, V. Schlabach, P. Schmidt, E. E. Schneider, O. Schub, M. H. Schwitters, R. Sciacca, G. Scribano, A. Segler, S. Seidel, S. Seiya, Y. Sganos, G. Shaw, N. M. Sheaff, M. Shochet, M. Siegrist, J. Sill, A. Sinervo, P. Skarha, J. Sliwa, K. Smith, D. A. Snider, F. D. Song, L. Song, T. Spahn, M. Sphicas, Paris A. Spies, A. Denis, R. St Stanco, L. Stefanini, A. Sullivan, G. Sumorok, K. Swartz, R. L., Jr. Takano, M. Takikawa, K. Tarem, S. Tartarelli, F. Tether, S. Theriot, D. Timko, M. Tipton, P. Tkaczyk, S. Tollestrup, A. Tonnison, J. Trischuk, W. Tsay, Y. Tseng, J. Turini, N. Ukegawa, F. Underwood, D. Vejcik, S.,III Vidal, R. Wagner, R. G. Wagner, R. L. Wainer, N. Walker, R. C. Walsh, J. Warburton, A. Watts, G. Watts, T. Webb, R. Wendt, C. Wenzel, H. Wester, W. C.,III Westhusing, T. White, S. N. Wicklund, A. B. Wicklund, E. Williams, H. H. Winer, B. L. Wolinski, J. Wu, D. Y. Wu, X. Wyss, J. Yagil, A. Yasuoka, K. Ye, Y. Yeg, G. P. Yoh, J. Yokoyama, M. Yun, J. C. Zanetti, A. Zetti, F. Zhang, S. Zhang, W. Zucchelli, S. Ptohos, Fotios [0000-0002-3432-3452]
Source :
Physical Review D
Publication Year :
1994
Abstract
We report a measurement of the diffraction dissociation differential cross section [ital d][sup 2][sigma][sub SD]/[ital dM][sup 2][ital dt] for [ital [bar p]p][r arrow][ital [bar p]X] at [radical][ital s] =546 and 1800 GeV, [ital M][sup 2]/[ital s][lt]0.2 and 0[le][minus][ital t][le]0.4 GeV[sup 2]. Our results are compared to theoretical predictions and to extrapolations from experimental results at lower energies.
Details
Database :
OpenAIRE
Journal :
Physical Review D
Accession number :
edsair.doi.dedup.....129db865b6eade11c06943178b933442