Back to Search Start Over

Belle II Technical Design Report

Authors :
Abe, T.
Adachi, I.
Arefiev, A.
Hara, T.
Haruyama, T.
Hayasaka, K.
Hayashi, K.
Hayashii, H.
Heck, M.
Heindl, S.
Heller, C.
Hemperek, T.
Higuchi, T.
Arinstein, K.
Horii, Y.
Hou, W. S.
Hsiung, Y. B.
Huang, C. H.
Hwang, S.
Hyun, H. J.
Igarashi, Y.
Iglesias, C.
Iida, Y.
Iijima, T.
Arita, Y.
Imamura, M.
Inami, K.
Irmler, C.
Ishizuka, M.
Itagaki, K.
Itoh, R.
Iwabuchi, M.
Iwai, G.
Iwai, M.
Iwasaki, M.
Asner, D. M.
Iwasaki, Y.
Iwashita, T.
Iwata, S.
Jang, H.
Ji, X.
Jinno, T.
Jones, M.
Julius, T.
Kageyama, T.
Kah, D. H.
Aulchenko, V.
Kakuno, H.
Kamitani, T.
Kanazawa, K.
Kapusta, P.
Kataoka, S. U.
Katayama, N.
Kawai, M.
Kawai, Y.
Kawasaki, T.
Kennedy, J.
Aushev, T.
Kichimi, H.
Kikuchi, M.
Kiesling, C.
Kim, B. K.
Kim, G. N.
Kim, H. J.
Kim, H. O.
Kim, J. B.
Kim, J. H.
Kim, M. J.
Aziz, T.
Kim, S. K.
Kim, K. T.
Kim, T. Y.
Kinoshita, K.
Kishi, K.
Kisielewski, B.
Kleese van Dam, K.
Knopf, J.
Ko, B. R.
Koch, M.
Bakich, A. M.
Kodys, P.
Koffmane, C.
Koga, Y.
Kohriki, T.
Koike, S.
Koiso, H.
Kondo, Y.
Korpar, S.
Kouzes, R. T.
Kreidl, Ch.
Balagura, V.
Kreps, M.
Krizan, P.
Krokovny, P.
Krueger, H.
Kruth, A.
Kuhn, W.
Kuhr, T.
Kumar, R.
Kumita, T.
Kupper, S.
Ban, Y.
Kuzmin, A.
Kvasnicka, P.
Kwon, Y. J.
Lacasta, C.
Lange, J. S.
Lee, I. S.
Lee, M. J.
Lee, M. W.
Lee, S. H.
Lemarenko, M.
Adamczyk, K.
Barberio, E.
Li, J.
Li, W. D.
Li, Y.
Libby, J.
Limosani, A.
Liu, C.
Liu, H.
Liu, Y.
Liu, Z.
Liventsev, D.
Barvich, T.
Lopez Virto, A.
Makida, Y.
Mao, Z. P.
Marinas, C.
Masuzawa, M.
Matvienko, D.
Mitaroff, W.
Miyabayashi, K.
Miyata, H.
Miyazaki, Y.
Belous, K.
Miyoshi, T.
Mizuk, R.
Mohanty, G. B.
Mohapatra, D.
Moll, A.
Mori, T.
Morita, A.
Morita, Y.
Moser, H. G.
Moya Martin, D.
Bergauer, T.
Mueller, T.
Muenchow, D.
Murakami, J.
Myung, S. S.
Nagamine, T.
Nakamura, I.
Nakamura, T. T.
Nakano, E.
Nakano, H.
Nakao, M.
Bhardwaj, V.
Nakazawa, H.
Nam, S. H.
Natkaniec, Z.
Nedelkovska, E.
Negishi, K.
Neubauer, S.
Ng, C.
Ninkovic, J.
Nishida, S.
Nishimura, K.
Bhuyan, B.
Novikov, E.
Nozaki, T.
Ogawa, S.
Ohmi, K.
Ohnishi, Y.
Ohshima, T.
Ohuchi, N.
Oide, K.
Olsen, S. L.
Ono, M.
Blyth, S.
Ono, Y.
Onuki, Y.
Ostrowicz, W.
Ozaki, H.
Pakhlov, P.
Pakhlova, G.
Palka, H.
Park, H.
Park, H. K.
Peak, L. S.
Bondar, A.
Peng, T.
Peric, I.
Pernicka, M.
Pestotnik, R.
Petric, M.
Piilonen, L. E.
Poluektov, A.
Prim, M.
Prothmann, K.
Regimbal, K.
Bonvicini, G.
Reisert, B.
Richter, R. H.
Riera-Babures, J.
Ritter, A.
Ritter, M.
Roehrken, M.
Rorie, J.
Rosen, M.
Rozanska, M.
Ruckman, L.
Bozek, A.
Rummel, S.
Rusinov, V.
Russell, R. M.
Ryu, S.
Sahoo, H.
Sakai, K.
Sakai, Y.
Santelj, L.
Sasaki, T.
Sato, N.
Ahn, S.
Bracko, M.
Sato, Y.
Scheirich, J.
Schieck, J.
Schwanda, C.
Schwartz, A. J.
Schwenker, B.
Seljak, A.
Senyo, K.
Seon, O. S.
Sevior, M. E.
Brodzicka, J.
Shapkin, M.
Shebalin, V.
Shen, C. P.
Shibuya, H.
Shiizuka, S.
Shiu, J. G.
Shwartz, B.
Simon, F.
Simonis, H. J.
Singh, J. B.
Brovchenko, O.
Sinha, R.
Sitarz, M.
Smerkol, P.
Sokolov, A.
Solovieva, E.
Stanic, S.
Staric, M.
Stypula, J.
Suetsugu, Y.
Sugihara, S.
Browder, T. E.
Sugimura, T.
Sumisawa, K.
Sumiyoshi, T.
Suzuki, K.
Suzuki, S. Y.
Takagaki, H.
Takasaki, F.
Takeichi, H.
Takubo, Y.
Tanaka, M.
Cao, G.
Tanaka, S.
Taniguchi, N.
Tarkovsky, E.
Tatishvili, G.
Tawada, M.
Taylor, G. N.
Teramoto, Y.
Tikhomirov, I.
Trabelsi, K.
Tsuboyama, T.
Chang, M. C.
Tsunada, K.
Tu, Y. C.
Uchida, T.
Uehara, S.
Ueno, K.
Uglov, T.
Unno, Y.
Uno, S.
Urquijo, P.
Ushiroda, Y.
Chang, P.
Usov, Y.
Vahsen, S.
Valentan, M.
Vanhoefer, P.
Varner, G.
Varvell, K. E.
Vazquez, P.
Vila, I.
Vilella, E.
Vinokurova, A.
Chao, Y.
Visniakov, J.
Vos, M.
Wang, C. H.
Wang, J.
Wang, M. Z.
Wang, P.
Wassatch, A.
Watanabe, M.
Watase, Y.
Weiler, T.
Chekelian, V.
Wermes, N.
Wescott, R. E.
White, E.
Wicht, J.
Widhalm, L.
Williams, K. M.
Won, E.
Xu, H.
Yabsley, B. D.
Yamamoto, H.
Chen, A.
Yamaoka, H.
Yamaoka, Y.
Yamauchi, M.
Yin, Y.
Yoon, H.
Yu, J.
Yuan, C. Z.
Yusa, Y.
Zander, D.
Zdybal, M.
Aihara, H.
Chen, K. F.
Zhang, Z. P.
Zhao, J.
Zhao, L.
Zhao, Z.
Zhilich, V.
Zhou, P.
Zhulanov, V.
Zivko, T.
Zupanc, A.
Zyukova, O.
Chen, P.
BELLE II Collaboration
Cheon, B. G.
Chiang, C. C.
Chistov, R.
Cho, K.
Choi, S. K.
Chung, K.
Comerma, A.
Cooney, M.
Akai, K.
Cowley, D. E.
Critchlow, T.
Dalseno, J.
Danilov, M.
Dieguez, A.
Dierlamm, A.
Dillon, M.
Dingfelder, J.
Dolenec, R.
Dolezal, Z.
Aloi, M.
Drasal, Z.
Drutskoy, A.
Dungel, W.
Dutta, D.
Eidelman, S.
Enomoto, A.
Epifanov, D.
Esen, S.
Fast, J. E.
Feindt, M.
Andricek, L.
Fernandez Garcia, M.
Fifield, T.
Fischer, P.
Flanagan, J.
Fourletov, S.
Fourletova, J.
Freixas, L.
Frey, A.
Friedl, M.
Fruehwirth, R.
Aoki, K.
Fujii, H.
Fujikawa, M.
Fukuma, Y.
Funakoshi, Y.
Furukawa, K.
Fuster, J.
Gabyshev, N.
Gaspar de Valenzuela Cueto, A.
Garmash, A.
Garrido, L.
Arai, Y.
Geisler, Ch.
Gfall, I.
Goh, Y. M.
Golob, B.
Gorton, I.
Grzymkowski, R.
Guo, H.
Ha, H.
Haba, J.
Hara, K.
Source :
INSPIRE-HEP

Abstract

480 pp. (2010).<br />The Belle detector at the KEKB electron-positron collider has collected almost 1 billion Y(4S) events in its decade of operation. Super-KEKB, an upgrade of KEKB is under construction, to increase the luminosity by two orders of magnitude during a three-year shutdown, with an ultimate goal of 8E35 /cm^2 /s luminosity. To exploit the increased luminosity, an upgrade of the Belle detector has been proposed. A new international collaboration Belle-II, is being formed. The Technical Design Report presents physics motivation, basic methods of the accelerator upgrade, as well as key improvements of the detector.

Subjects

Subjects :
pixel [semiconductor detector]
BELLE: upgrade
Physics::Instrumentation and Detectors
data acquisition
electromagnetic [calorimeter]
trigger
programming
semiconductor detector: pixel
calorimeter: electromagnetic
drift chamber
electronics: readout
Physics::Accelerator Physics
High Energy Physics::Experiment
readout [electronics]
particle identification
upgrade [BELLE]
activity report
performance

Details

Database :
OpenAIRE
Journal :
INSPIRE-HEP
Accession number :
edsair.doi.dedup.....0d24c7bac86105123a1837c64a73c2ef
Full Text :
https://doi.org/10.3204/PUBDB-2017-09976
Full Text Access
View/download PDF

Tools

Authors Abstract Subjects Details