Aplicación del método de Rietveld al análisis cuantitativo SiC sinterizado en fase líquida

La determinacion de las fracciones en peso de las fases mediante difraccion de rayos X es enormemente complicada en ceramicos a base de SiC debido al intenso solapamiento entre las reflexiones Bragg de los diferentes politipos. No obstante, el metodo de Rietveld constituye una herramienta poderosa para resolver este problema. En este trabajo se utiliza el metodo de Rietveld al objeto de determinar las fracciones en peso de las diferentes fases para una muestra de SiC sinterizado en fase liquida (LPS SiC). Nuestros resultados ponen tambien de manifiesto la necesidad de incorporar correcciones debidas a orientacion preferencial para efectuar un analisis cuantitativo preciso.