Aspects complémentaires entre la spectroscopie d'absorption X et la diffraction anomale dans le cas d'entités de taille nanométrique supportés sur un oxyde léger : agrégats métalliques et oxyde de type spinelle

La complementarite entre deux techniques specifiques au rayonnement synchrotron, la spectroscopie d'absorption X et la diffraction anomale est illustree a travers l'etude d'entites de taille nanometrique deposees sur un oxyde leger. En premier lieu, une caracterisation d'agregats metalliques Pt-Co deposes sur une zeolite montre tous les avantages d'une telle approche. Citons parmi eux, la determination de la taille de la particule grâce a la connaissance du nombre de premier voisin metallique et de la nature du reseau cristallographique de la particule. Pour les oxydes divises, cette demarche permet une mesure precise de l'etat electronique du zinc, du taux d'occupation des sites tetraedriques ainsi que de la taille du cristallite de l'oxyde etudie.