Peculiarities of low frequency noise and non-radiative recombination in AlGaN QWs emitting at 280 nm

A prominent source of charge carrier losses due to non-radiative recombination in AlGaN QWs, caused by the presence of charged centers localized at disordered hetero interfaces, has been experimentally revealed. It was found out that the spectral density of current low-frequency noise, which carries integral information about single defects and a defect system, is an order of magnitude higher in AlGaN QWs than in effective blue InGaN/GaN QWs. Thus, non-radiative recombination losses are still the source responsible for the low quantum efficiency of ultraviolet LEDs.
Экспериментально выявлен значительный источник потерь носителей заряда на безызлучательную рекомбинацию в AlGaN QWs, вызванный присутствием заряженных центров, локализованных на разупорядоченных гетеро границах. Выяснено, что спектральная плотность токового низкочастотного шума, несущая интегральную информацию о единичных дефектах и дефектной системе, на порядок выше в AlGaN QWs, чем в эффективных голубых InGaN/GaN QWs. Таким образом, потери на безызлучательную рекомбинацию по-прежнему являются источником, ответственным за низкую квантовую эффективность ультрафиолетовых светодиодов.