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Gastmoleküle in ausgerichteten Zeolithen und Rasterkraftmikroskopie an Zeolithoberflächen
- Publication Year :
- 1997
- Publisher :
- ETH Zurich, 1997.
- Subjects :
- MOLEKULARSIEBE + ZEOLITHE (CHEMISCHE ERZEUGNISSE)
MOLECULAR SIEVES + ZEOLITES (CHEMICAL PRODUCTS)
WAFER (MICROELECTRONICS)
SILICIUM (CHEMISCHE ELEMENTE)
Physics
SINGLE CRYSTALS
OBERFLÄCHENBESCHAFFENHEIT, MORPHOLOGIE, RAUHIGKEIT (PHYSIK VON MOLEKULARSYSTEMEN)
WAFER (MIKROELEKTRONIK)
ADSORPTION OF ATOMS (SORPTION)
ATOMIC FORCE MICROSCOPES, AFM + ATOMIC FORCE MICROSCOPY
EINKRISTALLE
RASTERKRAFTMIKROSKOPE, RKM + RASTERKRAFTMIKROSKOPIE
SILICON (CHEMICAL ELEMENTS)
SURFACE STRUCTURE, MORPHOLOGY, ROUGHNESS (PHYSICS OF MOLECULAR SYSTEMS)
ADSORPTION VON ATOMEN (SORPTION)
Subjects
Details
- Language :
- German
- Database :
- OpenAIRE
- Accession number :
- edsair.doi...........8e5df1ed54599c94d8ee5234b4761ba4
- Full Text :
- https://doi.org/10.3929/ethz-a-001732496