An X-ray diffraction method for semiquantitative mineralogical analysis of Chilean nitrate ore

Computer analysis of X-ray diffraction (XRD) data provides a simple method for determining the semiquantitative mineralogical composition of naturally occurring mixtures of saline minerals. The method herein described was adapted from a computer program for the study of mixtures of naturally occurring clay minerals. The program evaluates the relative intensities of selected diagnostic peaks for the minerals in a given mixture, and then calculates the relative concentrations of these minerals. The method requires precise calibration of XRD data for the minerals to be studied and selection of diffraction peaks that minimize inter-compound interferences. The calculated relative abundances are sufficiently accurate for direct comparison with bulk chemical analyses of naturally occurring saline mineral assemblages. RESUMEN. Metodo para el analisis mineralogico semicuantitativo de nitratos chilenos por difraccion de rayos X. El analisis por difraccion de rayos X (XRD) es un metodo simple que se puede utilizar para determinar la composicion mineralogica semicuantitativa de mezclas de minerales salinos que ocurren en forma natural. El metodo descrito en el presente estudio fue adaptado de un programa computacional para el estudio de mezclas de minerales de arcilla. El programa evalua las intensidades relativas de picos de diagnostico seleccionados para minerales de una mezcla determinada y, enseguida, calcula las concentraciones relativas de estos minerales. El metodo requiere una calibracion precisa de los datos XRD para los minerales que seran estudiados, seleccionandose los picos de difraccion que minimizan las interferencias interminerales. Las abundancias relativas calculadas son suficientemente precisas para la comparacion directa con analisis quimicos de diversas asociaciones de minerales salinos.