Zur Klärung von Schadensfällen bei Komplexbeanspruchung — Rasterelektronenmikroskopie

An verschiedenen Beispielen aus Praxis und Forschung wird die Einsatzmoglichkeit des Rasterelektronenmikroskopes (REM) fur die Aufdeckung von Schadensursachen gezeigt. Es versteht sich von selbst, das dies ohne Kenntnis der Betriebs- bzw. Beanspruchungsbedingungen nur in Sonderfallen moglich ist. Failure Analysis with the Scanning Electron Microscope. Examples of practice and research will show the possibility to use the scanning electron microscopy for studying the various crack mechanisms. It is necessary, of course, to know most of parameters like material, stress, temperature, pressure, corrosive agent to get exact results.