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Propriétés structurales de surfaces, interfaces et nanostructures, étudiées à l’aide des rayons X

Authors :
Gilles Renaud
Source :
Reflets de la physique. :65-69
Publication Year :
2013
Publisher :
EDP Sciences, 2013.

Abstract

La diffusion/diffraction et l’absorption des rayons X issus d’une source synchrotron sont des techniques tres puissantes d’etude de la structure, de la morphologie et de la composition de surfaces, d’interfaces et de nano-objets, en particulier in situ , durant leur elaboration, ou in operando .Nous les illustrons par l’exemple de la croissance de germanium sur des surfaces (001) de silicium monocristallin, ou apparaissent successivement une couche bidimensionnelle contrainte presentant un arrangement complexe des atomes de surface, puis differentes nanostructures facettees qui relaxent progressivement leur parametre de maille via une interdiffusion avec le substrat.

Subjects

Subjects :
General Medicine

Details

ISSN :
21026777 and 1953793X
Database :
OpenAIRE
Journal :
Reflets de la physique
Accession number :
edsair.doi...........3e910a3b7651fe8820521e96622a87c2
Full Text :
https://doi.org/10.1051/refdp/201334065