Investigation of the bias effect on total dose induced degradation on bipolar linear microcircuits

Authors :: Velo, Y. Gonzalez
Boch, J.
Roche, N.
Perez, S.
Vaillé, J.-R.
Dusseau, L.
Saigné, Frédéric
Lorfèvre, E.
Schrimpf, R. d.
Chatry, C.
Canals, A.
Institut d’Electronique et des Systèmes (IES)
Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Radiations et composants (RADIAC)
Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Centre de Recherches sur les Macromolécules Végétales (CERMAV)
Institut de Chimie du CNRS (INC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)
Centre National d'Études Spatiales [Toulouse] (CNES)
Eric, Dauverchain
Publication Year :: 2009
Publisher :: HAL CCSD, 2009.
Abstract: International audience

Subjects :: [SPI.TRON] Engineering Sciences [physics]/Electronics
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[SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics

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