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Modélisation d'une ligne microruban en présence de perturbateurs métalliques quelle que soit leur orientation

Authors :
Le Gouguec, Thierry
Martin, Pierre-Marie
Lab-STICC_UBO_MOM_DIM
Laboratoire des sciences et techniques de l'information, de la communication et de la connaissance (Lab-STICC)
École Nationale d'Ingénieurs de Brest (ENIB)-Université de Bretagne Sud (UBS)-Université de Brest (UBO)-Télécom Bretagne-Institut Brestois du Numérique et des Mathématiques (IBNM)
Université de Brest (UBO)-Université européenne de Bretagne - European University of Brittany (UEB)-École Nationale Supérieure de Techniques Avancées Bretagne (ENSTA Bretagne)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Nationale d'Ingénieurs de Brest (ENIB)-Université de Bretagne Sud (UBS)-Université de Brest (UBO)-Télécom Bretagne-Institut Brestois du Numérique et des Mathématiques (IBNM)
Université de Brest (UBO)-Université européenne de Bretagne - European University of Brittany (UEB)-École Nationale Supérieure de Techniques Avancées Bretagne (ENSTA Bretagne)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Le Gouguec, Thierry
Source :
16ème édition du Colloque International sur la Compatibilité ElectroMagnétique (CEM 2012), 16ème édition du Colloque International sur la Compatibilité ElectroMagnétique (CEM 2012), Apr 2012, ROUEN, France. pp.79: 2C-2
Publication Year :
2012
Publisher :
HAL CCSD, 2012.

Abstract

International audience; Dans le cadre de la technologie PCB multicouches, nous présentons la modélisation des effets de rubans métalliques perturbateurs placés au dessus d'une ligne microruban. Dans un premier temps, nous illustrons à l'aide de mesures, les conséquences de l'orientation d'un ruban perturbateur sur la propagation de la ligne. Nous présentons également l'influence de la longueur et de la largeur de ces rubans sur la transmission. Nous proposons ensuite une modélisation circuit de ces effets que nous validons par comparaison avec des résultats de mesures. Enfin nous étendons la modélisation au cas d'une ligne microruban en présence de grilles métalliques.

Details

Language :
French
Database :
OpenAIRE
Journal :
16ème édition du Colloque International sur la Compatibilité ElectroMagnétique (CEM 2012), 16ème édition du Colloque International sur la Compatibilité ElectroMagnétique (CEM 2012), Apr 2012, ROUEN, France. pp.79: 2C-2
Accession number :
edsair.dedup.wf.001..f7646190fa9cbb9e834a326c229a8ee7