METHOD, DEVICE, AND SYSTEM FOR ASSESSING THE QUALITY OF BALANCE

Authors :: Hewson, David
Duchene, Jacques
Snoussi, Hichem
Hogrel, Jean-Yves
Langeron, Yves
Laboratoire de Nanotechnologie et d'Instrumentation Optique (LNIO)
Institut Charles Delaunay (ICD)
Université de Technologie de Troyes (UTT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Technologie de Troyes (UTT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
VU VAN, Jean-Baptiste
Source :: France, Patent n° : WO/2012/052697. 2012
Publication Year :: 2012
Publisher :: HAL CCSD, 2012.

Subjects :: [SPI]Engineering Sciences [physics]
[SPI] Engineering Sciences [physics]

Tools