Étude des propriétés électroniques de nanofils semiconducteurs d'InAs par microscopie à effet tunnel basse température et quatre pointes

Authors :: DURAND, Corentin
Berthe, Maxime
Nguyen, T.H.
Caroff, P.
Nys, J.P.
Grandidier, B.
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN)
Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)
Source :: 14ème Forum des Microscopies à Sonde Locale, 14ème Forum des Microscopies à Sonde Locale, 2011, Ecully, France
Publication Year :: 2011
Publisher :: HAL CCSD, 2011.

Language :: French
Database :: OpenAIRE
Journal :: 14ème Forum des Microscopies à Sonde Locale, 14ème Forum des Microscopies à Sonde Locale, 2011, Ecully, France
Accession number :: edsair.dedup.wf.001..b0e2e0ad55306734ca41dca69cb2718a

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