Thermal Analysis of AlN/GaN/AlGaN HEMTs grown on Si and SiC Substrate through TCAD Simulations and Measurements

Authors :: Sahoo, A.K.
Subramani, N.K.
Nallatamby, Jean-Christophe
Sommet, Raphaël
Quéré, R
Rolland, N
Medjdoub, F
Systèmes RF (XLIM-SRF)
XLIM (XLIM)
Université de Limoges (UNILIM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Limoges (UNILIM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN)
Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)
Source :: Proceedings of the 46st European Microwave Conference, EuMW 2016, Proceedings of the 46st European Microwave Conference, EuMW 2016, 2016, London, UK, United Kingdom. pp
Publication Year :: 2016
Publisher :: HAL CCSD, 2016.
Abstract: International audience; no abstract

Subjects :: ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
[SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics

Language :: English
Database :: OpenAIRE
Journal :: Proceedings of the 46st European Microwave Conference, EuMW 2016, Proceedings of the 46st European Microwave Conference, EuMW 2016, 2016, London, UK, United Kingdom. pp
Accession number :: edsair.dedup.wf.001..ae18d1ebed8082d63d79a15a3f85cf12

Tools