Contribution à l'amélioration de la résolution en microscopie optique : Profilométrie différentielle picométrique et imagerie en champ proche

Authors :: Gleyzes, Philippe
Institut Langevin - Ondes et Images (UMR7587) (IL)
Ecole Superieure de Physique et de Chimie Industrielles de la Ville de Paris (ESPCI Paris)
Université Paris sciences et lettres (PSL)-Université Paris sciences et lettres (PSL)-Sorbonne Université (SU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Université Paris Sud - Paris XI
Claude Boccara
Sorbonne Université (SU)-Ecole Superieure de Physique et de Chimie Industrielles de la Ville de Paris (ESPCI Paris)
Université Paris sciences et lettres (PSL)-Université Paris sciences et lettres (PSL)-Université de Paris (UP)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Source :: Optique [physics.optics]. Université Paris Sud-Paris XI, 1993. Français. ⟨NNT : ⟩, Optique [physics.optics]. Université Paris Sud-Paris XI, 1993. Français
Publication Year :: 1993
Publisher :: HAL CCSD, 1993.
Abstract: Thèse datant de 1993 : le recours au Pdf peut s'avérer nécessaire pour plus de détails - Laboratoire Langevin non associé à Paris 11, Orsay dans la nomenclature en vigueur à la date de mise en ligne - Thèse jointe en deux parties (1: pp. 1-64; 2: pp. 65-134 + annexes); Résumé => Voir Pdf (2ème pièce jointe), pages 121-123; Non disponible

Subjects :: [PHYS.PHYS.PHYS-OPTICS]Physics [physics]/Physics [physics]/Optics [physics.optics]
Non disponibles

Language :: French
Database :: OpenAIRE
Journal :: Optique [physics.optics]. Université Paris Sud-Paris XI, 1993. Français. ⟨NNT : ⟩, Optique [physics.optics]. Université Paris Sud-Paris XI, 1993. Français
Accession number :: edsair.dedup.wf.001..9a2a0a39daf56714d79fd2b3ea7c133f

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