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Secondary ion mass spectrometry
- Authors :
- Sangely, L.
Boyer, B.
Chambost, E.
Valle, N.
Audinot, J. -N
Trevor Ireland
Wiedenbeck, M.
Aléon, J.
Jungnickel, H.
Barnes, J. -P
Bienvenu, P.
Breuer, U.
- Source :
- Scopus-Elsevier
Details
- Database :
- OpenAIRE
- Journal :
- Scopus-Elsevier
- Accession number :
- edsair.dedup.wf.001..8d8da30043d73269cd2d278593940013