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Effet de défauts lacunaires dans les matériaux d’interconnexion

Authors :
Dahoo, Pierre-Richard
Khettab, Malika
Chong, Christian
Girard, Armelle
Pougnet, Philippe
PLANETO - LATMOS
Laboratoire Atmosphères, Milieux, Observations Spatiales (LATMOS)
Université de Versailles Saint-Quentin-en-Yvelines (UVSQ)-Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 (UPMC)-Institut national des sciences de l'Univers (INSU - CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Versailles Saint-Quentin-en-Yvelines (UVSQ)-Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 (UPMC)-Institut national des sciences de l'Univers (INSU - CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Laboratoire d'Ingénierie des Systèmes de Versailles (LISV)
Université de Versailles Saint-Quentin-en-Yvelines (UVSQ)
Laboratoire d'étude des microstructures [Châtillon] (LEM - ONERA - CNRS)
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-ONERA
Valeo Powertrain Systems
VALEO
Abdelkhalak El Hami et Philippe Pougnet
Cardon, Catherine
ONERA-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Source :
Les systèmes mécatroniques embarqués 2. Analyse des causes de défaillances, modélisation, simulation et optimisation, Abdelkhalak El Hami et Philippe Pougnet. Les systèmes mécatroniques embarqués 2. Analyse des causes de défaillances, modélisation, simulation et optimisation, 2, ISTE éditions, Chapitre 4, pp. 99-122, 2015, Collection: Génie mécanique et mécanique des solides, 978-1-78405-059-7
Publication Year :
2015
Publisher :
HAL CCSD, 2015.

Abstract

International audience

Details

Language :
French
ISBN :
978-1-78405-059-7
ISBNs :
9781784050597
Database :
OpenAIRE
Journal :
Les systèmes mécatroniques embarqués 2. Analyse des causes de défaillances, modélisation, simulation et optimisation, Abdelkhalak El Hami et Philippe Pougnet. Les systèmes mécatroniques embarqués 2. Analyse des causes de défaillances, modélisation, simulation et optimisation, 2, ISTE éditions, Chapitre 4, pp. 99-122, 2015, Collection: Génie mécanique et mécanique des solides, 978-1-78405-059-7
Accession number :
edsair.dedup.wf.001..8744cfd5fd21928bd8fc0fef8617e10c