Nanometer scale characterizations of InGaN nanostructures grown on GaN template

Authors :: El Gmili, Youssef
Sundaram, Suresh
Puybaret, Renaud
Li, Xin
Bonanno, Peter
Pradalier, Cedric
Voss, Paul L
Salvestrini, Jean-Paul
Ougazzaden, Abdallah
Georgia Tech Lorraine [Metz]
Université de Franche-Comté (UFC)
Université Bourgogne Franche-Comté [COMUE] (UBFC)-Université Bourgogne Franche-Comté [COMUE] (UBFC)-Ecole Supérieure d'Electricité - SUPELEC (FRANCE)-Georgia Institute of Technology [Atlanta]-CentraleSupélec-Ecole Nationale Supérieure des Arts et Metiers Metz-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Laboratoire d'Informatique de Grenoble (LIG)
Université Pierre Mendès France - Grenoble 2 (UPMF)-Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Autonomous Systems Laboratory (BIOMEDIA)
Commonwealth Scientific and Industrial Research Organisation [Canberra] (CSIRO)
CSIRO Information and Commuciation Technologies (CSIRO ICT Centre)
Laboratoire Matériaux Optiques, Photonique et Systèmes (LMOPS)
CentraleSupélec-Université de Lorraine (UL)
Source :: NanoTech, NanoTech, Jun 2015, Paris, France
Publication Year :: 2015
Publisher :: HAL CCSD, 2015.
Abstract: International audience

Subjects :: [PHYS.COND.CM-MS]Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat]/Materials Science [cond-mat.mtrl-sci]
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