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Développement de briques technologiques pour la fabrication de composants MOS diamant : contacts ohmiques et capacités MIS sur diamant de type P
- Source :
- SYMPOSIUM DE GENIE ELECTRIQUE (SGE 2020), SYMPOSIUM DE GENIE ELECTRIQUE (SGE 2020), Jul 2021, Nantes, France
- Publication Year :
- 2021
- Publisher :
- HAL CCSD, 2021.
-
Abstract
- National audience; Des contacts ohmiques de très bonne qualité électriques et des capacités MIS fonctionnelles sur diamant de type P sont des briques technologiques fondamentales pour envisager la fabrication de composants MOS diamant. La technique de caractérisation des contacts ohmiques par TLM circulaire a été validée et des diodes MIS ont donc été fabriquées. Même si des optimisations sont encore nécessaires, les résultats présentés permettent d'envisager la fabrication d'un démonstrateur de type diode P-TMBS (Trench MOS Barrier Schottky) en diamant.
- Subjects :
- [SPI.NANO] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
Capacités MIS
[SPI.MAT] Engineering Sciences [physics]/Materials
[SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
MOS
Contacts ohmiques
Diamant
[SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials
Subjects
Details
- Language :
- French
- Database :
- OpenAIRE
- Journal :
- SYMPOSIUM DE GENIE ELECTRIQUE (SGE 2020), SYMPOSIUM DE GENIE ELECTRIQUE (SGE 2020), Jul 2021, Nantes, France
- Accession number :
- edsair.dedup.wf.001..584fb04a6322c8ff0e5f8045a2df75d3