Contributions à l'étude des surfaces, interfaces et films minces par la méthode mirage

Authors :: Roger, Jean-Paul
Institut Langevin - Ondes et Images (UMR7587) (IL)
Ecole Superieure de Physique et de Chimie Industrielles de la Ville de Paris (ESPCI Paris)
Université Paris sciences et lettres (PSL)-Université Paris sciences et lettres (PSL)-Sorbonne Université (SU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Université Pierre et Marie Curie - Paris VI
D. Fournier
Sorbonne Université (SU)-Ecole Superieure de Physique et de Chimie Industrielles de la Ville de Paris (ESPCI Paris)
Université Paris sciences et lettres (PSL)-Université Paris sciences et lettres (PSL)-Université de Paris (UP)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Source :: Optique [physics.optics]. Université Pierre et Marie Curie-Paris VI, 1988. Français. ⟨NNT : ⟩, Optique [physics.optics]. Université Pierre et Marie Curie-Paris VI, 1988. Français
Publication Year :: 1988
Publisher :: HAL CCSD, 1988.
Abstract: Voir dernière page du pdf joint; Non disponible

Subjects :: Diffusion thermique
Rugosité
[PHYS.PHYS.PHYS-OPTICS]Physics [physics]/Physics [physics]/Optics [physics.optics]
Films minces
Semiconducteurs
Méthodes photothermiques
Elctrochimie interfaciale
Détection mirage
Non disponibles

Language :: French
Database :: OpenAIRE
Journal :: Optique [physics.optics]. Université Pierre et Marie Curie-Paris VI, 1988. Français. ⟨NNT : ⟩, Optique [physics.optics]. Université Pierre et Marie Curie-Paris VI, 1988. Français
Accession number :: edsair.dedup.wf.001..54fe57dcd7ed357dfddb43a41b152316

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