Étude de la fiabilité de transistors GaN pour des applications spatiales : mesures temporelles monitorées en régime d’« overdrive

Authors :: Benvegnu, Agostino
Laurent, Sylvain
Quéré, Raymond
Barataud, Denis
Roux, Jean-Luc
Muraro, Jean-Luc
C2S2 (XLIM-C2S2)
XLIM (XLIM)
Université de Limoges (UNILIM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Limoges (UNILIM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Centre National d'Études Spatiales [Toulouse] (CNES)
Thales Alenia Space (TAS)
THALES
Source :: 19ème Journées Nationales Micro-ondes (JNM), 19ème Journées Nationales Micro-ondes (JNM), Jun 2015, Bordeaux, France
Publication Year :: 2015
Publisher :: HAL CCSD, 2015.
Abstract: National audience

Subjects :: [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
[SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics

Language :: French
Database :: OpenAIRE
Journal :: 19ème Journées Nationales Micro-ondes (JNM), 19ème Journées Nationales Micro-ondes (JNM), Jun 2015, Bordeaux, France
Accession number :: edsair.dedup.wf.001..540a233849a0c431e7c776b4c1e2033c

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