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Origin of High Total Dose Sensitivity on the OP400 Bipolar Operational Amplifier

Authors :
Bernard, Muriel
Bouchet, Thierry
Dusseau, Laurent
Institut d’Electronique et des Systèmes (IES)
Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Radiations et composants (RADIAC)
Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
ADIS Innovation
ADIS
Source :
IEEE-NSREC2008, IEEE-NSREC2008, 2008, Tucson, United States
Publication Year :
2008
Publisher :
HAL CCSD, 2008.

Abstract

International audience

Subjects

Subjects :
ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
[SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics

Details

Language :
English
Database :
OpenAIRE
Journal :
IEEE-NSREC2008, IEEE-NSREC2008, 2008, Tucson, United States
Accession number :
edsair.dedup.wf.001..338551186eb1229e1b08e96060711cd9

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Authors Abstract Subjects Details