Interférence entre lignes signals en technologie silicium submicronique

Authors :: Le Gouguec, Thierry
Tanguy, Noël
Huret, Fabrice
Chilo, Jean
Laboratoire des sciences et techniques de l'information, de la communication et de la connaissance (UMR 3192) (Lab-STICC)
Université européenne de Bretagne - European University of Brittany (UEB)-Université de Bretagne Sud (UBS)-Université de Brest (UBO)-Institut Brestois du Numérique et des Mathématiques (IBNM)
Université de Brest (UBO)-Télécom Bretagne-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Laboratoire d'Electronique et Systèmes de Télécommunications (LEST)
Université de Brest (UBO)-Ecole Nationale Supérieure des Télécommunications de Bretagne-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Tanguy, Noël
Source :: 11e Colloque International de Compatibilité Electromagnétique, CEM 2002, 11e Colloque International de Compatibilité Electromagnétique, CEM 2002, Mar 2002, Grenoble, France. pp.421-426
Publication Year :: 2002
Publisher :: HAL CCSD, 2002.
Abstract: International audience

Subjects :: [SPI.NANO] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
[SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
ComputingMilieux_MISCELLANEOUS

Language :: French
Database :: OpenAIRE
Journal :: 11e Colloque International de Compatibilité Electromagnétique, CEM 2002, 11e Colloque International de Compatibilité Electromagnétique, CEM 2002, Mar 2002, Grenoble, France. pp.421-426
Accession number :: edsair.dedup.wf.001..28c58896d7caa55b58f8013cdf844a10

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