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3D GaP/Si(001) growth mode and antiphase boundaries

Authors :
Lucci, Ida
Charbonnier, Simon
Wang, Yanping
Bahri, M.
Vallet, Maxime
Rohel, Tony
Bernard, Rozenn
Létoublon, Antoine
Largeau, L.
Patriarche, G.
Ponchet, Anne
Durand, Olivier
Pedesseau, Laurent
Gangopadhyay, S.
Turban, Pascal
Cornet, Charles
Fonctions Optiques pour les Technologies de l'informatiON (FOTON)
Université de Rennes 1 (UR1)
Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université européenne de Bretagne - European University of Brittany (UEB)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes)
Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-École Nationale Supérieure des Sciences Appliquées et de Technologie (ENSSAT)-Télécom Bretagne-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Institut de Physique de Rennes (IPR)
Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Laboratoire de photonique et de nanostructures (LPN)
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Centre d'élaboration de matériaux et d'études structurales (CEMES)
Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3)
Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Chimie de Toulouse (ICT-FR 2599)
Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP)
Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche pour le Développement (IRD)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3)
Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP)
Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche pour le Développement (IRD)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse)
Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)
Birla Institute of Technology and Science (BITS Pilani)
ANR-14-CE26-0014,ANTIPODE,Analyse approfondie de la nucléation III-V/Si pour les composants photoniques hautement intégrés(2014)
Université de Rennes (UR)-Université européenne de Bretagne - European University of Brittany (UEB)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes)
Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-École Nationale Supérieure des Sciences Appliquées et de Technologie (ENSSAT)-Télécom Bretagne-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Université de Rennes (UR)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse)
Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut de Chimie de Toulouse (ICT)
Institut de Recherche pour le Développement (IRD)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3)
Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP)
Université de Toulouse (UT)-Institut de Recherche pour le Développement (IRD)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3)
Université de Toulouse (UT)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP)
Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Source :
19th International Conference on Molecular-Beam Epitaxy (IC-MBE 2016), 19th International Conference on Molecular-Beam Epitaxy (IC-MBE 2016), Sep 2016, Montpellier, France
Publication Year :
2016
Publisher :
HAL CCSD, 2016.

Abstract

International audience; In this work, we investigate the relationship between the surface roughness and antiphase domains in GaP layers grown by MBE on a vicinal Si (001) substrate. The main role of the starting Si surface before III‐V overgrowth is first discussed. Structural properties of antiphase domains (APDs) are investigated at the atomic scale by Scanning Tunneling Microscopy (STM) and Transmission Electron Microscopy (TEM). The correlation between the 3D growth mode and the emerging antiphase boundaries (APBs) is discussed in terms of surface/interface energy, supported by DFT calculations.

Details

Language :
English
Database :
OpenAIRE
Journal :
19th International Conference on Molecular-Beam Epitaxy (IC-MBE 2016), 19th International Conference on Molecular-Beam Epitaxy (IC-MBE 2016), Sep 2016, Montpellier, France
Accession number :
edsair.dedup.wf.001..21366664fe5574a365e4598bc95df34b