Mesures locales de photoconductivité par AFM à pointe conductrice sur des dispositifs métal-semiconducteur-métal à base de diamant

Authors :: Alvarez, José
Kleider, Jean-Paul
Houzé, Frédéric
Chrétien, Pascal
Liao, M.
Koide, Y.
Laboratoire de génie électrique de Paris (LGEP)
Université Paris-Sud - Paris 11 (UP11)-Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 (UPMC)-Ecole Supérieure d'Electricité - SUPELEC (FRANCE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Source :: Actes de la Réunion Annuelle VEECO des Utilisateurs d?AFM, Réunion Annuelle VEECO des Utilisateurs d'AFM, Réunion Annuelle VEECO des Utilisateurs d'AFM, 2006, France
Publication Year :: 2006
Publisher :: HAL CCSD, 2006.
Abstract: National audience

Language :: French
Database :: OpenAIRE
Journal :: Actes de la Réunion Annuelle VEECO des Utilisateurs d?AFM, Réunion Annuelle VEECO des Utilisateurs d'AFM, Réunion Annuelle VEECO des Utilisateurs d'AFM, 2006, France
Accession number :: edsair.dedup.wf.001..17cd2fddfff8992a3b9eaf72c592153d

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